이 애플리케이션의 일부 콘텐츠는 현재 사용할 수 없습니다.
이 상황이 계속되면 다음 주소로 문의하십시오피드백 및 연락
1. (WO2018096091) MEASURING DEVICE AND METHOD FOR OPERATING THE MEASURING DEVICE
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2018/096091 국제출원번호: PCT/EP2017/080325
공개일: 31.05.2018 국제출원일: 24.11.2017
IPC:
G01N 21/17 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
21
광학적 수단, 즉 적외선, 가시광선, 또는 자외선을 사용하는 것에 의한 재료의 조사 또는 분석
17
조사될 재료의 특성에 따라 입사광이 변조되는 시스템
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
N
재료의 화학적 또는 물리적 성질의 검출에 의한 재료의 조사 또는 분석
21
광학적 수단, 즉 적외선, 가시광선, 또는 자외선을 사용하는 것에 의한 재료의 조사 또는 분석
17
조사될 재료의 특성에 따라 입사광이 변조되는 시스템
25
색; 스펙트럼특성, 즉 둘 또는 그이상의 파장 혹은 파장대에 있어서 재료가 빛에 주는 효과의 비교
27
광전검출기의 이용
출원인:
AVL LIST GMBH [AT/AT]; Hans-List-Platz 1 8020 Graz, AT
발명자:
REINGRUBER, Herbert; AT
HARMS, Klaus-Christoph; AT
대리인:
PATENTANWÄLTE PINTER & WEISS OG; Prinz-Eugen-Strasse 70 1040 Wien, AT
우선권 정보:
A51073/201625.11.2016AT
발명의 명칭: (EN) MEASURING DEVICE AND METHOD FOR OPERATING THE MEASURING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE ET PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT DU DISPOSITIF DE MESURE
(DE) MESSGERÄT UND VERFAHREN ZUM BETREIBEN DES MESSGERÄTS
요약서:
(EN) The invention relates to a measuring device (1) for measuring a measurement property (C) of a measurement component (2) in a measurement gas (3) and to a method for operating the measuring device (1). The measurement gas (3) is photoacoustically excited in a measurement chamber (4), the sound thus produced is captured by means of a sound sensor (5), and the captured signal is evaluated in an evaluation unit (6) in order to determine the measurement property (C). The evaluation unit (6) corrects the determined measurement property (C) by means of a correction function. In order to determine at least one parameter of the correction function, a determination pressure (PE) is set in the measurement chamber (4) at least once and the absolute pressure (P) in the measurement chamber (4) is determined. At said absolute pressure (P), at least one determination measurement is performed with determination excitation, and the at least one parameter is determined on the basis of the absolute pressure (P) and the determination measurement result (CE) of the determination measurement.
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure (1) permettant de mesurer une caractéristique de mesure (C) d'un composant de mesure (2) dans un gaz de mesure (3) et un procédé de fonctionnement dudit dispositif de mesure (1). Le gaz de mesure (3) est excité de manière photo-acoustique dans une chambre de mesure (4), le son ainsi généré est reçu, au moyen d'un capteur acoustique (5) et le signal reçu est évalué dans une unité d'évaluation (6) pour déterminer la caractéristique de mesure (C). L'unité d'évaluation (6) corrige la caractéristique de mesure (C) déterminée au moyen d'une fonction de correction. Selon l'invention, pour déterminer au moins un paramètre de la fonction de correction, une pression de détermination (PE) est réglée, au moins une fois, dans la chambre de mesure (4), la pression absolue (P) étant ainsi déterminée dans la chambre de mesure. À ladite pression absolue (P), au moins une mesure de détermination à une excitation de détermination et l'au moins un paramètre sont déterminés en fonction de la pression absolue (P) et du résultat de la mesure de détermination (CE) de la mesure détermination.
(DE) Die Erfindung betrifft ein Messgerät (1) zur Messung einer Messeigenschaft (C) einer Messkomponente (2) in einem Messgas (3) und ein Verfahren zum Betreibendes Messgeräts (1). Das Messgas (3) wird in einer Messkammer (4) photoakustisch angeregt, der dabei erzeugte Schall wird mit einem Schallaufnehmer (5) aufgenommen und das aufgenommene Signal wird in einer Auswerteeinheit (6) zur Ermittlung der Messeigenschaft(C) ausgewertet. Die Auswerteeinheit (6) korrigiert die ermittelte Messeigenschaft (C) mittels einer Korrekturfunktion. Zur Ermittlung zumindest eines Parameters der Korrekturfunktion wird zumindest einmal ein Ermittlungsdruck (PE) in der Messkammer (4)eingestellt, dabei wird der Absolutdruck (P) in der Messkammer (4) ermittelt. Es wird bei diesem Absolutdruck (P) zumindest eine Ermittlungsmessung bei einer Ermittlungsanregung durchgeführt und der zumindest eine Parameter wird anhand des Absolutdrucks (P) und des Ermittlungsmessergebnisses (CE) der Ermittlungsmessung ermittelt.
front page image
지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 독일어 (DE)
출원언어: 독일어 (DE)