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1. (WO2018063418) COMPACT TESTING SYSTEM
국제사무국에 기록된 최신 서지정보   

공개번호: WO/2018/063418 국제출원번호: PCT/US2016/055780
공개일: 05.04.2018 국제출원일: 06.10.2016
IPC:
G01R 31/3177 (2006.01) ,G06F 9/00 (2006.01) ,G06F 11/26 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
31
전기적 특성을 시험하기 위한 장치; 전기적 고장의 위치를 나타내기 위한 장치; 달리 분류가 되지 않고 시험하는 것에 특징이 있는 전기적 시험을 위한 장치
28
전자회로의 시험, 예. 신호추적기(signal tracer)에 의한 것
317
디지탈 회로의 시험
3177
...논리동작시험, 예. 논리분석기에 의한 것
G SECTION G — 물리학
06
산술논리연산; 계산; 계수
F
전기에 의한 디지털 데이터처리
9
프로그램제어를 위한 장치, 예. 제어장치
G SECTION G — 물리학
06
산술논리연산; 계산; 계수
F
전기에 의한 디지털 데이터처리
11
에러 검출; 에러 정정; 감시
22
대기 동작 중 또는 유휴시간 중에 테스트함에 의해, 예를 들어 시동(start-up)테스트를 함에 의해, 결함 컴퓨터 하드웨어의 검출 또는 위치 발견
26
기능 테스트
출원인:
XCERRA CORPORATION [US/US]; 825 University Avenue Norwood, Massachusetts 02062, US
발명자:
BROWN, Benjamin; US
POFFENBERGER, Russel; US
대리인:
COLANDREO, Brian J.; US
ABRAMSON, Michael T.; US
PLACKER, Jeffrey T.; US
WHITTENBERGER, Mark H.; US
우선권 정보:
15/281,96630.09.2016US
발명의 명칭: (EN) COMPACT TESTING SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE TEST COMPACT
요약서:
(EN) An automated test platform includes a CPU subsystem housed in an enclosure and configured to execute an automated test process. A test head is housed in the enclosure and is configured to apply one or more test signals to a device under test. A power supply is housed in the enclosure and is configured to provide electrical power to the CPU subsystem and the test head.
(FR) L’invention concerne une plate-forme de test automatisée comprenant un sous-système de CPU logé dans une enceinte et conçu pour exécuter un processus de test automatisé. Une tête de test est logée dans l'enceinte et est conçue pour appliquer un ou plusieurs signaux de test à un dispositif soumis au test. Une alimentation électrique est logée dans l'enceinte et est conçue pour fournir de l'énergie électrique au sous-système de CPU et à la tête de test.
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지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)