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1. (WO2018030438) CONDUCTION INSPECTION DEVICE MEMBER AND CONDUCTION INSPECTION DEVICE
국제사무국에 기록된 최신 서지정보    정보 제출

공개번호: WO/2018/030438 국제출원번호: PCT/JP2017/028842
공개일: 15.02.2018 국제출원일: 08.08.2017
IPC:
G01R 1/06 (2006.01) ,G01R 1/073 (2006.01) ,G01R 31/02 (2006.01) ,G01R 31/26 (2014.01) ,G01R 31/28 (2006.01) ,H01L 21/66 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
1
G01R 5/00에서 G01R 13/00 또는 G01R 31/00 그룹에 의해 커버되는 형태의 기기 또는 장치의 세부
02
일반적인 구조의 세부
06
측정용 도선; 측정용 탐침
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
1
G01R 5/00에서 G01R 13/00 또는 G01R 31/00 그룹에 의해 커버되는 형태의 기기 또는 장치의 세부
02
일반적인 구조의 세부
06
측정용 도선; 측정용 탐침
067
측정용 탐침
073
복합 탐침
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
31
전기적 특성을 시험하기 위한 장치; 전기적 고장의 위치를 나타내기 위한 장치; 달리 분류가 되지 않고 시험하는 것에 특징이 있는 전기적 시험을 위한 장치
02
전기적 장치, 전선 및 구성요소의 단락, 단선, 누설 또는 오접속의 시험
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
31
전기적 특성을 시험하기 위한 장치; 전기적 고장의 위치를 나타내기 위한 장치; 달리 분류가 되지 않고 시험하는 것에 특징이 있는 전기적 시험을 위한 장치
26
개개의 반도체장치의 시험
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
R
전기변량의 측정; 자기변량의 측정
31
전기적 특성을 시험하기 위한 장치; 전기적 고장의 위치를 나타내기 위한 장치; 달리 분류가 되지 않고 시험하는 것에 특징이 있는 전기적 시험을 위한 장치
28
전자회로의 시험, 예. 신호추적기(signal tracer)에 의한 것
H SECTION H — 전기
01
기본적 전기소자
L
반도체 장치; 다른 곳에 속하지 않는 전기적 고체 장치
21
반도체 장치 또는 고체 장치 또는 그러한 부품의 제조 또는 처리에 특별히 적용되는 방법 또는 장비
66
제조 또는 처리중의 시험이나 측정
출원인:
積水化学工業株式会社 SEKISUI CHEMICAL CO., LTD. [JP/JP]; 大阪府大阪市北区西天満2丁目4番4号 4-4, Nishitemma 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5308565, JP
발명자:
笹平 昌男 SASADAIRA, Masao; JP
王 暁舸 WANG, Xiaoge; JP
대리인:
特許業務法人三枝国際特許事務所 SAEGUSA & PARTNERS; 大阪府大阪市中央区道修町1-7-1 北浜TNKビル Kitahama TNK Building, 1-7-1, Doshomachi, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410045, JP
우선권 정보:
2016-15571808.08.2016JP
발명의 명칭: (EN) CONDUCTION INSPECTION DEVICE MEMBER AND CONDUCTION INSPECTION DEVICE
(FR) ÉLÉMENT POUR DISPOSITIF D'INSPECTION DE CONDUCTION ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE CONDUCTION
(JA) 導通検査装置用部材及び導通検査装置
요약서:
(EN) Provided is a conduction inspection device member: that has conductive parts that do not readily crack or develop voids; that does not readily experience impairment of conductive performance, even after repeated conduction inspections; and that is not readily left with contact marks at a portion thereof that contacts inspected members. Also provided is a conduction inspection device that comprises the conduction inspection device member. A conduction inspection device member that comprises a substrate 13, through holes 11, and conductive parts 12. The through holes 11 are arranged in the substrate 13, and the conductive parts 12 are housed inside the through holes 11. The conductive parts 12 include conductive particles 2. The conductive particles 2 comprise a substrate particle 21 and a conductive layer 22 that is arranged upon the surface of the substrate particle 21. The conductive layer 22 has protrusions 23 on the outer surface thereof.
(FR) L'invention porte sur un élément pour dispositif d'inspection de conduction : qui possède des parties conductrices qui ne se fissurent pas facilement ou ne développent pas facilement d'espaces vides ; qui ne subit pas facilement de dégradation des performances conductrices, même après des inspections de conduction répétées ; et qui ne garde pas facilement de marques de contact au niveau de sa partie entrant en contact avec les éléments inspectés. L'invention porte également sur un dispositif d'inspection de conduction qui comprend l'élément pour dispositif d'inspection de conduction. Un élément pour dispositif d'inspection de conduction comprend un substrat 13, des trous traversants 11 et des parties conductrices 12. Les trous traversants 11 sont disposés dans le substrat 13, et les parties conductrices 12 sont logées à l'intérieur des trous traversants 11. Les parties conductrices 12 comprennent des particules 2 conductrices. Les particules conductrices 2 comprennent une particule de substrat 21 et une couche conductrice 22 qui est disposée sur la surface de la particule de substrat 21. La couche conductrice 22 possède des saillies 23 sur sa surface extérieure.
(JA) 導電部のクラック及びボイドが発生しにくく、繰り返し導通検査を行っても導通性能が損なわれにくく、しかも、検査対象部材に接触した部分に対して接触痕を残しにくい導通検査装置用部材及びこの導通検査装置用部材を備えた導通検査装置を提供する。 導通検査装置用部材は、基体13、貫通孔11、及び導電部12を備え、貫通孔11は基体13に複数配置され、導電部12は貫通孔11内に収容されており、導電部12は導電性粒子2を含む。導電性粒子2は、基材粒子21及び基材粒子21の表面上に配置された導電層22を備える。導電層22は、外表面に複数の突起23を有する。
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공개언어: 일본어 (JA)
출원언어: 일본어 (JA)