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1. (WO2018005940) PIXELATED GAMMA DETECTOR
국제사무국에 기록된 최신 서지정보정보 제출

공개번호: WO/2018/005940 국제출원번호: PCT/US2017/040232
공개일: 04.01.2018 국제출원일: 30.06.2017
IPC:
G01T 1/20 (2006.01)
G SECTION G — 물리학
01
측정; 시험
T
원자핵 방사선 또는 X선의 측정
1
X선 , 감마선, 미립자선 또는 우주선의 특징
16
방사선 강도의 측정
20
신틸레이션(scintillation) 검출기를 가진 것
출원인:
GENERAL ELECTRIC COMPANY [US/US]; 1 River Road Schenectady, NY 12345, US
발명자:
DOLINSKY, Sergei, Ivanovich; US
YANOFF, Brian, David; US
GUIDA, Renato; US
IVAN, Adrian; US
대리인:
POLLANDER, Laura, L.; US
MIDGLEY, Stephen, G.; US
DIMAURO, Peter, T.; US
WINTER, Catherine, J.; US
GNIBUS, Michael, M.; US
우선권 정보:
15/198,50230.06.2016US
발명의 명칭: (EN) PIXELATED GAMMA DETECTOR
(FR) DÉTECTEUR GAMMA PIXELISÉ
요약서:
(EN) A pixelated gamma detector includes a scintillator column assembly (140) having scintillator crystals (120) and optical transparent elements (125) alternating along a longitudinal axis, a collimator assembly (110) having longitudinal walls separated by collimator septum (114), the collimator septum (114) spaced apart to form collimator channels (118), the scintillator column assembly (140) positioned adjacent to the collimator assembly (110) so that the respective ones of the scintillator crystal (120) are positioned adjacent to respective ones of the collimator channels (118), the respective ones of the optical transparent element (125) are positioned adjacent to respective ones of the collimator septum (114), and a first photosensor (150) and a second photosensor (155), the first and the second photosensor each connected to an opposing end of the scintillator column assembly (140). A system and a method for inspecting and/or detecting defects in an interior of an object are also disclosed.
(FR) La présente invention concerne un détecteur gamma pixelisé qui comprend un ensemble de colonnes de scintillateur (140) ayant des cristaux de scintillateur (120) et des éléments transparents optiques (125) alternant le long d'un axe longitudinal, un ensemble de collimateur (110) ayant des parois longitudinales séparées par un septum de collimateur (114), le septum de collimateur (114) étant espacé pour former des canaux de collimateur (118), l'ensemble de colonnes de scintillateur (140) étant en position adjacente à l'ensemble de collimateur (110) de sorte que les canaux respectifs du cristal de scintillateur (120) soient en position adjacente aux canaux respectifs des canaux de collimateur (118), les canaux respectifs de l'élément transparent optique (125) sont en position adjacente aux canaux respectifs du septum de collimateur (114), et un premier photocapteur (150) et un deuxième photocapteur (155), le premier et le deuxième photocapteur étant chacun connectés à une extrémité opposée de l'ensemble de colonnes de scintillateur (140). L'invention concerne en outre un système et un procédé d'inspection et/ou de détection de défauts à l'intérieur d'un objet.
front page image
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아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
아프리카 지식재산권기구(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)
또한로 출판 됨:
CN109313277KR1020190022862EP3479146