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1. WO2017110653 - MICROSCOPE SYSTEM

공개번호 WO/2017/110653
공개일 29.06.2017
국제출원번호 PCT/JP2016/087422
국제출원일 15.12.2016
IPC
G SECTION G — 물리학
02
광학
B
광학요소, 광학계 또는 광학장치; H01J; X선 광학 H01J; 29/89
21
현미경
G SECTION G — 물리학
02
광학
B
광학요소, 광학계 또는 광학장치; H01J; X선 광학 H01J; 29/89
21
현미경
36
사진촬영용 또는 투영용으로 구성된 것
G02B 21/00 (2006.01)
G02B 21/36 (2006.01)
CPC
G02B 21/125
G02B 21/241
G02B 21/26
G02B 21/367
출원인
  • オリンパス株式会社 OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2951番地 2951, Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928507, JP
발명자
  • 渡邉 広 WATANABE, Hiroshi; JP
대리인
  • 特許業務法人酒井国際特許事務所 SAKAI INTERNATIONAL PATENT OFFICE; 東京都千代田区霞が関3丁目8番1号 虎の門三井ビルディング Toranomon Mitsui Building, 8-1, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000013, JP
우선권 정보
2015-24989922.12.2015JP
공개언어 일본어 (JA)
출원언어 일본어 (JA)
지정국
발명의 명칭
(EN) MICROSCOPE SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE MICROSCOPE
(JA) 顕微鏡システム
요약서
(EN)
Provided is a microscope system capable of obtaining a composite image in which the contrast of a sample is reflected. A microscope system (100) characterized in being provided with: stage (3) on which a sample (2) is placed; a coaxial epi-illumination light source unit (5) and DF ring light source (6); an illumination optical system for irradiating light emitted from the light sources onto the sample (2); an operation unit (30) for receiving settings such as the luminous energy of the light source, a focusing wheel (16) capable of moving the sample (2) in the Z-axis direction and adjusting the distance between the stage (3) and an objective lens (4); an image pickup device (8) for picking up an observation image of the sample (2) to generate image data of the sample (2); and an EFI generation unit (25) for calculating a plurality of contrast values of each pixel of the image data generated by the image pickup device (8), and extracting and combining the pixels indicating a higher contrast value to generate an omnifocal image, the type or the like of light source being selectable when the EFI generation unit (25) generates the omnifocal image.
(FR)
L'invention concerne un système de microscope permettant d'obtenir une image composite dans laquelle le contraste d'un échantillon est réfléchi. L'invention concerne un système de microscope (100) caractérisé en ce qu'il comprend : un étage (3) sur lequel est placé un échantillon (2); une unité de source de lumière d'épi-illumination coaxiale (5) et une source de lumière annulaire DF (6); un système optique d'éclairage pour irradier de la lumière émise par les sources de lumière sur l'échantillon (2); une unité opérationnelle (30) pour recevoir des réglages tels que l'énergie lumineuse de la source de lumière, une molette de focalisation (16) capable de déplacer l'échantillon (2) dans la direction de l'axe Z et de régler la distance entre l'étage (3) et une lentille d'objectif (4); un dispositif de capture d'image (8) pour capter une image d'observation de l'échantillon (2) afin de générer des données d'image de l'échantillon (2) ; et une unité de génération EFI (25) pour calculer une pluralité de valeurs de contraste de chaque pixel des données d'image générées par le dispositif de capture d'image (8), et extraire et combiner les pixels indiquant une valeur de contraste plus élevée afin de générer une image omnifocale, le type ou analogue de la source de lumière étant sélectionnable quand l'unité de génération EFI (25) génère l'image omnifocale.
(JA)
標本のコントラストを反映した合成画像を得ることができる顕微鏡システムを提供する。顕微鏡システム100は、標本2が載置されるステージ3と、同軸落射光源部5およびDFリング光源6と、光源から射出された光を標本2に照射する照明光学系と、光源の光量等の設定を受け付ける操作部30と、標本2をZ軸方向へ移動可能であり、ステージ3と対物レンズ4との距離を調整する焦準ハンドル16と、標本2の観察像を撮像して標本2の画像データを生成する撮像装置8と、撮像装置8が生成した複数の前記画像データの画素毎のコントラスト値を算出し、より高いコントラスト値を示す画素を取り出し合成して全焦点画像を生成するEFI生成部25と、を備え、EFI生成部25が全焦点画像を生成する際、光源の種類等の選択を可能とすることを特徴とする。
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