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1. (WO2017001650) EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION
국제사무국에 기록된 최신 서지정보

공개번호: WO/2017/001650 국제출원번호: PCT/EP2016/065479
공개일: 05.01.2017 국제출원일: 01.07.2016
IPC:
H04L 9/32 (2006.01) ,H04L 9/08 (2006.01) ,G09C 1/00 (2006.01)
H SECTION H — 전기
04
전기통신기술
L
디지털 정보의 전송, 예. 전신통신
9
비밀 또는 보안통신을 위한 배치
32
시스템 사용자의 신원(Identity)과 권한(authority)을 확인하는 수단을 가진 것
H SECTION H — 전기
04
전기통신기술
L
디지털 정보의 전송, 예. 전신통신
9
비밀 또는 보안통신을 위한 배치
06
블럭적 부호화(blockwise coding)를 위한 시프트레지스터 또는 메모리를 사용하는 암호화 장치, 예. D. E. S 시스템
08
키 분배(key distribution)
G SECTION G — 물리학
09
교육; 암호방법; 전시; 광고; 봉인
C
암호 또는 비밀의 필요성을 포함하는 다른 목적을 위한 암호화 또는 암호해독장치
1
주어진 부호의 순서, 예. 이해할 수 있는 원문,을 부호 또는 군을 바꿔 놓음으로써, 또는 그것들을 미리 정한 방식에 의한 원위치에 되돌림으로서 이해할 수 없는 부호의 순서로 변형시키는 장치 또는 방법
출원인:
SECURE-IC SAS [FR/FR]; 15, rue Claude Chappe ZAC des Champs Blancs 35510 Cesson-Sévigné, FR
발명자:
DAFALI, Rachid; FR
DANGER, Jean-Luc; FR
GUILLEY, Sylvain; FR
LOZAC'H, Florent; FR
대리인:
HNICH-GASRI, Naïma; FR
우선권 정보:
15306063.701.07.2015EP
발명의 명칭: (EN) EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION
(FR) CIRCUIT D'ESSAI INCORPORÉ POUR UNE FONCTION PHYSIQUEMENT NON CLONABLE
요약서:
(EN) There is disclosed a silicon integrated circuit comprising a Physically Unclonable Function and an online or embedded test circuit, said online test circuit comprising one or more circuit parts being physically adjacent to said PUF and said one or more circuits embodying one or more tests which can be performed to determine one or more quality properties of said PUF or otherwise characterize it. Different tests with specific associated method steps are described.
(FR) L’invention concerne un circuit intégré au silicium comprenant une fonction physiquement non clonable (PUF) et un circuit d'essai en ligne ou incorporé, ledit circuit d'essai en ligne comprenant une ou plusieurs partie(s) de circuit qui est/sont physiquement adjacente(s) à ladite PUF et ledit ou lesdits circuit(s) incorporant un ou plusieurs essai(s) qui peut/peuvent être réalisé(s) pour déterminer une ou plusieurs propriété(s) de qualité de ladite PUF ou autrement la caractériser. Différents essais ayant des étapes de procédé associé spécifiques sont décrits.
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지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
아프리카지역 지식재산권기구(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
아프리카 지식재산권기구(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)
또한로 출판 됨:
KR1020180050276US20180183613CN108028757