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1. (WO2015121533) A DEVICE AND A METHOD FOR MANAGING A SAMPLE TO BE ANALYZED AND A SOLID SAMPLE CARRIER AND LIQUID SAMPLE CARRIER
국제사무국에 기록된 최신 서지정보   

공개번호: WO/2015/121533 국제출원번호: PCT/FI2015/050066
공개일: 20.08.2015 국제출원일: 02.02.2015
IPC:
G01N 1/28 (2006.01) ,G01N 35/00 (2006.01)
출원인: WALLAC OY[FI/FI]; PL 10 FI-20101 Turku, FI
발명자: KORPIMÄKI, Teemu; FI
대리인: BERGGREN OY AB; P.O. Box 16 (Antinkatu 3 C) FI-00101 Helsinki, FI
우선권 정보:
2014513211.02.2014FI
61/938,28711.02.2014US
발명의 명칭: (EN) A DEVICE AND A METHOD FOR MANAGING A SAMPLE TO BE ANALYZED AND A SOLID SAMPLE CARRIER AND LIQUID SAMPLE CARRIER
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE GESTION D'ÉCHANTILLON À ANALYSER, ET PORTEUR D'ÉCHANTILLON SOLIDE ET PORTEUR D'ÉCHANTILLON LIQUIDE
요약서: front page image
(EN) A device for managing a sample to be analyzed comprises magnetizing equipment (302) for producing magnetic field capable of interacting, when the sample is moving to or located in a sample well, with magnetically amplifying material attached to the sample, where the magnetically amplifying material has relative magnetic permeability constant greater than one. With the aid of the magnetizing element the movement of the sample to the sample well and/or the position of the sample in the sample well can be monitored and/or controlled. The device can be, for example but not necessarily, an instrument for dispensing samples to sample wells or an optical measurement instrument.
(FR) L'invention concerne un dispositif de gestion d'échantillon à analyser, qui comprend un équipement de magnétisation (302) pour produire un champ magnétique pouvant interagir, lorsque l'échantillon se déplace vers un puits d'échantillon ou est situé dans ce dernier, avec un matériau d'amplification magnétique fixé à l'échantillon, le matériau d'amplification magnétique ayant une perméabilité magnétique relative constante supérieure à un. À l'aide de l'élément de magnétisation, le mouvement de l'échantillon vers le puits d'échantillon et/ou la position de l'échantillon dans le puits d'échantillon peut être surveillé(e) et/ou commandé(e). Le dispositif peut être, par exemple, mais pas nécessairement, un instrument pour distribuer des échantillons à des puits d'échantillon ou un instrument de mesure optique.
지정국: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
유라시아 특허청 (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
유럽 특허청(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
공개언어: 영어 (EN)
출원언어: 영어 (EN)