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1. EP3396428 - MICROSCOPE SYSTEM

특허청 유럽 특허청(EPO)
출원번호 16878543
출원일 15.12.2016
공개번호 3396428
공개일 31.10.2018
문헌종류 A4
IPC
G SECTION G — 물리학
02
광학
B
광학요소, 광학계 또는 광학장치; H01J; X선 광학 H01J; 29/89
21
현미경
G SECTION G — 물리학
02
광학
B
광학요소, 광학계 또는 광학장치; H01J; X선 광학 H01J; 29/89
21
현미경
36
사진촬영용 또는 투영용으로 구성된 것
G02B 21/00
G02B 21/36
CPC
G02B 21/125
G02B 21/367
G02B 21/241
G02B 21/26
출원인 OLYMPUS CORP
발명자 WATANABE HIROSHI
지정국
우선권 정보 2015249899 22.12.2015 JP
2016087422 15.12.2016 JP
발명의 명칭
(DE) MIKROSKOPSYSTEM
(EN) MICROSCOPE SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE MICROSCOPE
요약서
(EN)
A microscope system for acquiring a combined image in which the contrast of a specimen is reflected is proposed. A microscope system 100 includes a stage 3 on which a specimen 2 is mounted; a coaxial incident light source unit 5 and a DF ring light source 6; an illumination optical system that irradiates the specimen 2 with light emitted from a light source; an operating unit 30 that receives setting of an amount of light or the like of the light source; a focusing handle 16 that can move the specimen 2 in the Z-axis direction and that adjusts the distance between the stage 3 and the objective lens 4; an imaging device 8 that images an observation image of the specimen 2 and configured to generate image data of the specimen 2; and an EFI generating unit 25 configured to generate extended focus image by calculating a contrast value for each pixel of a plurality of pieces of the image data generated by the imaging device 8 and extracting and combining pixels indicating higher contrast values, and, when the EFI generating unit 25 generates the extended focus image, the microscope system 100 enables selection of the type or the like of the light source.

(FR)
L'invention concerne un système de microscope permettant d'obtenir une image composite dans laquelle le contraste d'un échantillon est réfléchi. L'invention concerne un système de microscope (100) caractérisé en ce qu'il comprend : un étage (3) sur lequel est placé un échantillon (2); une unité de source de lumière d'épi-illumination coaxiale (5) et une source de lumière annulaire DF (6); un système optique d'éclairage pour irradier de la lumière émise par les sources de lumière sur l'échantillon (2); une unité opérationnelle (30) pour recevoir des réglages tels que l'énergie lumineuse de la source de lumière, une molette de focalisation (16) capable de déplacer l'échantillon (2) dans la direction de l'axe Z et de régler la distance entre l'étage (3) et une lentille d'objectif (4); un dispositif de capture d'image (8) pour capter une image d'observation de l'échantillon (2) afin de générer des données d'image de l'échantillon (2) ; et une unité de génération EFI (25) pour calculer une pluralité de valeurs de contraste de chaque pixel des données d'image générées par le dispositif de capture d'image (8), et extraire et combiner les pixels indiquant une valeur de contraste plus élevée afin de générer une image omnifocale, le type ou analogue de la source de lumière étant sélectionnable quand l'unité de génération EFI (25) génère l'image omnifocale.

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