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1. (WO2007082975) WAVEFRONT ABERRATION AND DISTANCE MEASUREMENT PHASE CAMERA
국제사무국에 기록된 최신 서지정보   

공개번호:    WO/2007/082975    국제출원번호:    PCT/ES2007/000046
공개일: 26.07.2007 국제출원일: 18.01.2007
IPC:
G01J 9/00 (2006.01)
출원인: UNIVERSIDAD DE LA LAGUNA [ES/ES]; Molinos De Agua, s/n, E-38207 La Laguna, Tenerife (ES) (For All Designated States Except US).
RODRIGUEZ RAMOS, José Manuel [ES/ES]; (ES) (For US Only).
ROSA GONZÁLEZ, Fernando [ES/ES]; (ES) (For US Only).
MARICHAL-HERNÁNDEZ, José Gil [ES/ES]; (ES) (For US Only)
발명자: RODRIGUEZ RAMOS, José Manuel; (ES).
ROSA GONZÁLEZ, Fernando; (ES).
MARICHAL-HERNÁNDEZ, José Gil; (ES)
대리인: OFICINA DE TRANSFERENCIA DE RESULTADOS DE INVESTIGACIÓN; OTRI-ULL, C/Viana 50, E-38201 La Laguna, Tenerife (ES)
우선권 정보:
P200600210 20.01.2006 ES
발명의 명칭: (EN) WAVEFRONT ABERRATION AND DISTANCE MEASUREMENT PHASE CAMERA
(ES) CÁMARA DE FASE PARA LA MEDIDA DE DISTANCIAS Y DE ABERRACIONES DE FRENTE DE ONDA
(FR) CAMÉRA DE PHASE DESTINÉE À LA MESURE DE DISTANCES ET D'ABERRATIONS DE FRONT D'ONDE
요약서: front page image
(EN)A system consisting of a phase camera with microlenses placed in the focal point of a converging lens, wherein the camera data is processed using a combined Fourier 'Slice' and Fast Fourier Transform edge detection technique providing both a three-dimensional wavefront map and a real scene depth map within a broad range of volumes. the invention is suitable for use in any field where wavefronts need to be determined, such as earth-based astronomical observation, ophthalmology, etc., as well as in fields requiring metrology, e.g. real scenes, CCD polishing, automobile mechanics, etc. The invention is particularly suitable for atmospheric tomography using ELTs (large-diameter telescopes: 50 or 100 metres).
(ES)El sistema aquí propuesto consiste en una cámara de fase formada por microlentes colocadas en el foco de una lente convergente, y cuyos datos, interpretados mediante la técnica combinada de 'Slice' de Fourier y de detección de bordes con Transformada Rápida de Fourier, permiten obtener tanto el mapa tridimensional del frente de onda como el mapa de profundidades en escenas reales dentro de un amplio rango de volúmenes. Esta invención puede ser útil en cualquier área o aplicación en que se requiera conocer el frente de onda: observación astronómica terrestre, oftalmología,...así como en las que se precise metrología: escenas reales, pulido de CCDs, mecánica de automóvil,... Se aplica al caso particular de tomografía de atmósfera en observaciones con ELTs (Telescopios de Gran diámetro: 50 ó 100 metros).
(FR)La présente invention concerne un système comprenant une caméra de phase composée de micro-lentilles placées au niveau du foyer d'une lentille convergente, et dont les données, interprétées à l'aide d'une technique combinée de 'Slice' de Fourier et de détection de bords avec transformée de Fourier rapide, permettent d'obtenir à la fois une carte tridimensionnelle du front d'onde et une carte de profondeurs dans des scènes réelles pour une large gamme de volumes. La présente invention peut être utile dans n'importe quel domaine ou application dans lequel il est nécessaire de connaître le front d'onde, tel que l'observation astronomique terrestre, l'ophtalmologie, ou encore dans un domaine ou une application de métrologie, tel que des scènes réelles, le polissage de CCD, la mécanique automobile, etc. La présente invention s'applique en particulier à la tomographie atmosphérique dans des observations à l'aide de télescopes de type ELT (télescopes de grand diamètre: 50 à 100 mètres).
지정국: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
공개언어: Spanish (ES)
출원언어: Spanish (ES)