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1. (DE102007024700) Verfahren zur Materialbearbeitung mit Laserstrahlung sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens

官庁 : ドイツ
出願番号: 102007024700 出願日: 25.05.2007
公開番号: 102007024700 公開日: 04.12.2008
公報種別: A1
IPC:
B23K 26/06
G02B 27/09
B 処理操作;運輸
23
工作機械;他に分類されない金属加工
K
ハンダ付またはハンダ離脱;溶接;ハンダ付または溶接によるクラッドまたは被せ金;局部加熱による切断,例.火炎切断:レーザービームによる加工
26
レーザービームによる加工,例.溶接,切断,穴あけ
02
加工物の位置決めまたは観察,例.照射点に関するもの;レーザービームの軸合せ,照準,焦点合せ
06
レーザービーム光の成形,例.マスクまたは多焦点装置によるもの
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
27
他の光学系;他の光学装置
09
光束整形,例.断面積の変更,で他に分類されないもの
CPC:
B23K 26/381
B23K 26/0604
B23K 26/0617
B23K 26/382
B23K 26/384
B23K 26/386
B23K 26/385
出願人: FRAUNHOFER GES FORSCHUNG
発明者: PETRING DIRK
SCHNEIDER FRANK
SCHULZ WOLFGANG
NIESSEN MARKUS
優先権情報:
発明の名称: (DE) Verfahren zur Materialbearbeitung mit Laserstrahlung sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
要約: front page image
(DE)

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Materialbearbeitung mit Laserstrahlung, bei dem die unfokussierte Laserstrahlung durch eine Fokussieroptik auf einen kleineren Strahlquerschnitt fokussiert wird, die optische Achse der fokussierten Laserstrahlung, als Strahlachse bezeichnet, auf die Materialoberfläche gerichtet wird, die aus der Fokussierung resultierende Strahltaille der fokussierten Laserstrahlung im Bereich der sich ausbildenden Wechselwirkungsfläche von Laserstrahlung und Material gehalten wird, die Laserstrahlung auf der Wechselwirkungsfläche teilweise absorbiert wird, so dass die Wechselwirkungsfläche durch induzierten Materialabtrag oder induzierte Materialverdrängung und damit auch die Laserstrahlung in das Material eindringt, wobei der Abstand der Strahltaille von der Ober- oder Unterseite der Wechselwirkungsfläche in axialer Richtung maximal dem dreifachen Wert der Eindringtiefe der Wechselwirkungsfläche in das Material entspricht, das dadurch gekennzeichnet ist, dass die Fokussierung derart erfolgt, dass Anteile der Laserstrahlung nicht nur in Ausbreitungsrichtung nach der Strahltaille, sondern auch in der Strahltaille und/oder auch in Ausbreitungsrichtung vor der Strahltaille divergent gemacht und somit von der Strahlachse weg gerichtet werden, und dass diese Anteile und Divergenzwinkel größer als diejenigen der Auswirkungen von Abbildungsfehlern sind, die mit Standardoptiken unbeabsichtigt entstehen und in Kauf genommen werden. Weiterhin betrifft die ...