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1. WO2023276769 - スキャナ装置、及び電気検査装置

公開番号 WO/2023/276769
公開日 05.01.2023
国際出願番号 PCT/JP2022/024632
国際出願日 21.06.2022
IPC
G01R 31/28 2006.1
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
H05K 1/14 2006.1
H電気
05他に分類されない電気技術
K印刷回路;電気装置の箱体または構造的細部,電気部品の組立体の製造
1印刷回路
02細部
142つ以上の印刷回路の構造的結合
H05K 3/00 2006.1
H電気
05他に分類されない電気技術
K印刷回路;電気装置の箱体または構造的細部,電気部品の組立体の製造
3印刷回路を製造するための装置または方法
CPC
G01R 31/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
H05K 1/14
HELECTRICITY
05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
1Printed circuits
02Details
14Structural association of two or more printed circuits
H05K 3/00
HELECTRICITY
05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
3Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
出願人
  • 日本電産リード株式会社 NIDEC READ CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 椹木 雅也 SAWARAGI Masaya
代理人
  • 梶原 慶 KAJIHARA Kei
優先権情報
2021-10763029.06.2021JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SCANNER DEVICE AND ELECTRICAL INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE BALAYAGE ET DISPOSITIF D'INSPECTION ÉLECTRIQUE
(JA) スキャナ装置、及び電気検査装置
要約
(EN) [Problem] To provide a scanner device and electrical inspection device having reduced susceptibility to increases in size. [Solution] A scanner device 3 that is mounted in an electrical inspection device 1, the scanner device 3 comprising a first independent substrate 31 that is a board-shaped circuit board and extends in a first direction, a first common substrate 41 that is a board-shaped circuit board and is disposed in parallel with the first independent substrate 31, and a second common substrate 42 that is a board-shaped circuit board and electrically connects the first independent substrate 31 and first common substrate 41, wherein the X-direction length of the first common substrate 41 is longer than the X-direction length of the first independent substrate 31.
(FR) Le problème décrit par la présente invention est de fournir un dispositif de balayage et un dispositif d'inspection électrique présentant une sensibilité réduite aux augmentations de taille. À cet effet, l'invention concerne un dispositif de balayage 3 qui est monté dans un dispositif d'inspection électrique 1, le dispositif de balayage 3 comprenant un premier substrat individuel 31 qui est une carte de circuit imprimé en forme de carte et qui s'étend dans une première direction, un premier substrat commun 41 qui est une carte de circuit imprimé en forme de carte et qui est disposé en parallèle avec le premier substrat individuel 31, et un second substrat commun 42 qui est une carte de circuit imprimé en forme de carte et qui connecte électriquement le premier substrat individuel 31 et le premier substrat commun 41, la longueur dans la direction X du premier substrat commun 41 étant plus longue que la longueur dans la direction X du premier substrat individuel 31.
(JA) 【課題】大型化しにくくなるスキャナ装置、及び電気検査装置を提供する。【解決手段】電気検査装置1に搭載されるスキャナ装置3であって、第一方向に延びる板状の回路基板である第一独立基板31と、板状の回路基板であって、第一独立基板31と平行に配置された第一共通基板41と、板状の回路基板であって、第一独立基板31、及び第一共通基板41を電気的に接続する第二共通基板42と、を備え、第一共通基板41のX方向の長さは、第一独立基板31のX方向の長さよりも長いスキャナ装置。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報