(EN) [Problem] To provide a scanner device and electrical inspection device having reduced susceptibility to increases in size. [Solution] A scanner device 3 that is mounted in an electrical inspection device 1, the scanner device 3 comprising a first independent substrate 31 that is a board-shaped circuit board and extends in a first direction, a first common substrate 41 that is a board-shaped circuit board and is disposed in parallel with the first independent substrate 31, and a second common substrate 42 that is a board-shaped circuit board and electrically connects the first independent substrate 31 and first common substrate 41, wherein the X-direction length of the first common substrate 41 is longer than the X-direction length of the first independent substrate 31.
(FR) Le problème décrit par la présente invention est de fournir un dispositif de balayage et un dispositif d'inspection électrique présentant une sensibilité réduite aux augmentations de taille. À cet effet, l'invention concerne un dispositif de balayage 3 qui est monté dans un dispositif d'inspection électrique 1, le dispositif de balayage 3 comprenant un premier substrat individuel 31 qui est une carte de circuit imprimé en forme de carte et qui s'étend dans une première direction, un premier substrat commun 41 qui est une carte de circuit imprimé en forme de carte et qui est disposé en parallèle avec le premier substrat individuel 31, et un second substrat commun 42 qui est une carte de circuit imprimé en forme de carte et qui connecte électriquement le premier substrat individuel 31 et le premier substrat commun 41, la longueur dans la direction X du premier substrat commun 41 étant plus longue que la longueur dans la direction X du premier substrat individuel 31.
(JA) 【課題】大型化しにくくなるスキャナ装置、及び電気検査装置を提供する。【解決手段】電気検査装置１に搭載されるスキャナ装置３であって、第一方向に延びる板状の回路基板である第一独立基板３１と、板状の回路基板であって、第一独立基板３１と平行に配置された第一共通基板４１と、板状の回路基板であって、第一独立基板３１、及び第一共通基板４１を電気的に接続する第二共通基板４２と、を備え、第一共通基板４１のＸ方向の長さは、第一独立基板３１のＸ方向の長さよりも長いスキャナ装置。
