(EN) The information processing device according to one aspect of the present art comprises a calibration processing unit. The calibration processing unit calculates a calibration parameter representing the arrangement relationship between a distance-measuring sensor that radiates measurement light, and another sensor that is different from the distance-measuring sensor, on the basis of data resulting when the distance-measuring sensor measures a calibration target, which has a plurality of recessed patterns that each have a recess and that are each configured such that the reflectivity with respect to the measurement light at a bottom-surface section of the recess and at an edge-surface section surrounding the recess is greater than a prescribed threshold value, and data resulting when the other sensor measures the calibrating target.
(FR) Un dispositif de traitement d’informations selon un mode de réalisation de la présente invention comprend une unité de traitement d'étalonnage. L'unité de traitement d'étalonnage calcule un paramètre d'étalonnage représentant la relation d'agencement entre un capteur de mesure de distance qui émet une lumière de mesure, et un autre capteur qui est différent du capteur de mesure de distance, sur la base des données résultant lorsque le capteur de mesure de distance mesure une cible d'étalonnage, qui présente une pluralité de motifs évidés qui ont chacun un évidement et qui sont chacun configurés de telle sorte que la réflectivité par rapport à la lumière de mesure à une section de surface de fond de l'évidement et à une section de surface de bord entourant l'évidement est supérieure à une valeur de seuil prescrite, et des données résultant lorsque l'autre capteur mesure la cible d'étalonnage.
(JA) 本技術の一形態に係る情報処理装置は、較正処理部を具備する。前記較正処理部は、測定光を照射する測距センサにより、各々が凹部を有し、前記凹部の底面部及び前記凹部を囲む縁面部の前記測定光に対する反射率が所定の閾値よりも高くなるように構成された複数の凹状パターンを有する較正用ターゲットを測定したデータと、前記測距センサとは異なる他のセンサにより、前記較正用ターゲットを測定したデータとに基づいて、前記測距センサと前記他のセンサとの配置関係を表す較正パラメータを算出する。
