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1. WO2022091674 - イオン分析装置

公開番号 WO/2022/091674
公開日 05.05.2022
国際出願番号 PCT/JP2021/035582
国際出願日 28.09.2021
IPC
G01N 27/62 2021.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
H01J 49/00 2006.1
H電気
01基本的電気素子
J電子管または放電ランプ
49粒子分光器または粒子分離管
CPC
G01N 27/62
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
62by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
H01J 49/00
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
出願人
  • 株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 古田 匡智 FURUTA, Masaji
  • ▲高▼橋 秀典 TAKAHASHI, Hidenori
代理人
  • 弁理士法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE
優先権情報
2020-18349702.11.2020JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) ION ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE D'IONS
(JA) イオン分析装置
要約
(EN) Provided is an ion analysis device (10) that irradiates sample component-derived precursor ions with radicals so as to generate product ions and analyzes the product ions, said device comprising: a reaction chamber (142) into which the precursor ions are introduced; a radical generation unit (151) which generates radicals; and a radical transport pipe (152) which connects the radical generation unit (151) and the reaction chamber (142), wherein at least part of the inner wall surface of the radical transport pipe (152) is made of a material having a lesser amount of or lower strength of radical adherence to the inner wall surface of the radical transport pipe (152) in comparison with alumina or quartz. One end (1523) of the radical transport pipe (152) is disposed inside the reaction chamber (142) and preferably faces toward a prescribed region (1424) where ions are localized in the reaction chamber (142).
(FR) L'invention concerne un dispositif d'analyse d'ions (10) qui irradie des ions précurseurs dérivés de composants d'échantillon avec des radicaux de manière à générer des ions produits et analyse les ions produits, ledit dispositif comprenant : une chambre de réaction (142) dans laquelle les ions précurseurs sont introduits; une unité de génération de radicaux (151) qui génère des radicaux; et un tuyau de transport de radicaux (152) qui relie l'unité de génération de radicaux (151) et la chambre de réaction (142), au moins une partie de la surface de paroi interne du tuyau de transport de radicaux (152) étant constituée d'un matériau ayant une plus faible quantité ou moins de résistance d'adhérence radicalaire à la surface de paroi interne du tuyau de transport de radicaux (152) par rapport à l'alumine ou au quartz. Une extrémité (1523) du tuyau de transport de radicaux (152) est disposée à l'intérieur de la chambre de réaction (142) et de préférence vers une région prescrite (1424) où des ions sont localisés dans la chambre de réaction (142).
(JA) 試料成分由来のプリカーサイオンにラジカルを照射することによりプロダクトイオンを生成して該プロダクトイオンを分析するイオン分析装置(10)であって、前記プリカーサイオンが導入される反応室(142)と、ラジカルを生成するラジカル生成部(151)と、ラジカル生成部(151)と反応室(142)を接続するラジカル輸送管(152)とを備え、ラジカル輸送管(152)の内壁面の少なくとも一部は、アルミナ又は石英よりもラジカル輸送管(152)の内壁面に対する前記ラジカルの付着量が少ない又は付着力が小さい素材から構成されている。ラジカル輸送管(152)の一端(1523)は、反応室(142)内に配置されており、反応室(142)内においてイオンが偏在する所定の領域(1424)の方を向いていることが好ましい。
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