(EN) An observation device 1A comprises a light source 11, a mirror 22, a condensing lens 24, an objective lens 25, a beam splitter 41, an imaging unit 43, and an analysis unit 50. The analysis unit 50 comprises an interference intensity image acquisition unit 51, a first complex amplitude image generation unit 52, a second complex amplitude image generation unit 53, a two-dimensional phase image generation unit 54, a three-dimensional phase image generation unit 55, and a refractive index distribution calculation unit 56. The analysis unit 50 changes the orientation of the reflective surface of the mirror 22 so as to irradiate an observation object S with light from each of a plurality of light irradiation directions, acquires from the imaging unit 43 interference intensity images at a reference position for the respective light irradiation directions, and performs a required process on the basis of the interference intensity images so as to obtain a three-dimensional refractive index distribution of the observation object. This makes it possible to achieve three-dimensional refractive index tomography in which the effect of multiple-scattering light is reduced.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'observation (1A) qui comprend une source de lumière (11), un miroir (22), une lentille condensatrice (24), une lentille d'objectif (25), un diviseur de faisceau (41), une unité d'imagerie (43) et une unité d'analyse (50). L'unité d'analyse (50) comprend une unité d'acquisition d'image d'intensité d'interférence (51), une première unité de génération d'image d'amplitude complexe (52), une seconde unité de génération d'image d'amplitude complexe (53), une unité de génération d'image de phase bidimensionnelle (54), une unité de génération d'image de phase tridimensionnelle (55) et une unité de calcul de distribution d'indice de réfraction (56). L'unité d'analyse (50) modifie l'orientation de la surface réfléchissante du miroir (22) de façon à soumettre un objet d'observation S à la lumière provenant de chaque direction d'une pluralité de directions de rayonnement de lumière, acquiert à partir de l'unité d'imagerie (43) des images d'intensité d'interférence à une position de référence pour les directions de rayonnement de lumière respectives et effectue un processus requis sur la base des images d'intensité d'interférence de façon à obtenir une distribution tridimensionnelle d'indice de réfraction de l'objet d'observation. Cela permet d'obtenir une tomographie tridimensionnelle d'indice de réfraction dans laquelle l'effet de lumière à diffusion multiple est réduit.
(JA) 観察装置１Ａは、光源１１、ミラー２２、コンデンサレンズ２４、対物レンズ２５、ビームスプリッタ４１、撮像部４３および解析部５０を備える。解析部５０は、干渉強度画像取得部５１、第１複素振幅画像生成部５２、第２複素振幅画像生成部５３、２次元位相画像生成部５４、３次元位相画像生成部５５および屈折率分布算出部５６を備える。解析部５０は、ミラー２２の反射面の方位を変化させることにより観察対象物Ｓに対して複数の光照射方向それぞれに沿って光を照射させ、複数の光照射方向それぞれについて基準位置における干渉強度画像を撮像部４３から取得し、これらの干渉強度画像に基づいて所要の処理をすることにより観察対象物の３次元屈折率分布を求める。これにより、多重散乱光の影響が低減された３次元屈折率トモグラフィを実現することができる。
