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1. WO2022049849 - 探傷試験方法

公開番号 WO/2022/049849
公開日 10.03.2022
国際出願番号 PCT/JP2021/021631
国際出願日 07.06.2021
IPC
G01N 29/06 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
29超音波,音波または亜音波の使用による材料の調査または分析;超音波または音波を物体内に伝播させることによる物体内部の可視化
04固体の分析
06内部の可視化,例.音波顕微鏡検査
G01N 29/265 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
29超音波,音波または亜音波の使用による材料の調査または分析;超音波または音波を物体内に伝播させることによる物体内部の可視化
22細部
26方向付けまたは走査のための構成
265静止した材料に対して検知器を移動させることによるもの
CPC
G01N 29/06
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
29Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
04Analysing solids
06Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
G01N 29/265
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
29Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
22Details ; , e.g. general constructional or apparatus details
26Arrangements for orientation or scanning ; by relative movement of the head and the sensor
265by moving the sensor relative to a stationary material
出願人
  • 日立造船株式会社 HITACHI ZOSEN CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 小林 優一 KOBAYASHI Yuichi
  • 篠田 薫 SHINODA Kaoru
  • 片山 猛 KATAYAMA Takeru
  • 安部 正光 ABE Masamitsu
代理人
  • 特許業務法人森本国際特許事務所 MORIMOTO INT'L PATENT OFFICE
優先権情報
2020-14718402.09.2020JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) FLAW DETECTION TEST METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE TEST DE DÉTECTION DE DÉFAUTS
(JA) 探傷試験方法
要約
(EN) This flaw detection test method (1) uses a flaw detection image of an object from an ultrasonic flaw detector (hereinafter referred to as a flaw detector). The flaw detection test method (1) comprises: a terminal attachment step (2) for allowing a worker to wear a wearable terminal that displays a flaw detection image; a device disposition step (3) for disposing a flaw detector on an object; and a scanning step (6) for causing the flaw detector to scan the object. The flaw detection test method (1) further comprises: a scanning state checking step for allowing the worker to check, using the wearable terminal, a flaw detection image from the flaw detector performing the scanning; and a scanning state adjustment step for, when the checked flaw detection image is inappropriate, allowing the worker to adjust the scanning state of the flaw detector such that the flaw detection image becomes appropriate. The flaw detection test method (1) further comprises a storage step for electronically storing the flaw detection image when the checked flaw detection image is appropriate or when the scanning state has been adjusted.
(FR) Procédé de test de détection de défauts (1) utilisant une image de détection de défauts d'un objet à partir d'un détecteur de défauts à ultrasons (ci-après désigné comme un détecteur de défauts). Le procédé de test de détection de défauts (1) comprend : une étape de fixation de terminal (2) destinée à permettre à un travailleur de porter un terminal portable qui affiche une image de détection de défauts ; une étape de disposition de dispositif (3) destinée à disposer un détecteur de défauts sur un objet ; et une étape de balayage (6) destinée à amener le détecteur de défauts à balayer l'objet. Le procédé de test de détection de défauts (1) comprend en outre : une étape de vérification d'état de balayage destinée à permettre au travailleur de vérifier, à l'aide du terminal portable, une image de détection de défauts à partir du détecteur de défauts réalisant le balayage ; et une étape de réglage d'état de balayage destinée, lorsque l'image de détection de défauts vérifiée est inappropriée, à permettre au travailleur d'ajuster l'état de balayage du détecteur de défauts de telle sorte que l'image de détection de défauts devient appropriée. Le procédé de test de détection de défauts (1) comprend en outre une étape de stockage destinée à stocker électroniquement l'image de détection de défauts lorsque l'image de détection de défauts vérifiée est appropriée ou lorsque l'état de balayage a été ajusté.
(JA) 超音波探傷機器(以下、探傷機器)からの対象物の探傷画像を使用する探傷試験方法(1)である。探傷試験方法(1)は、探傷画像を表示するウェアラブル端末を作業者が装着する端末装着工程(2)と、探傷機器を対象物に配置する機器配置工程(3)と、探傷機器を対象物に対して走査させる走査工程(6)とを備える。探傷試験方法(1)は、走査している探傷機器からの探傷画像をウェアラブル端末で作業者が確認する走査状態確認工程と、確認された探傷画像が不適切である場合、探傷画像が適切となるように、作業者が探傷機器の走査状態を調整する走査状態調整工程とをさらに備える。探傷試験方法(1)は、確認された探傷画像が適切である場合、または、走査状態が調整された場合、探傷画像を電子的に保存する保存工程をさらに備える。
関連特許文献
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