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1. WO2022049826 - 分析作業支援装置及び分析作業支援ソフトウェア

公開番号 WO/2022/049826
公開日 10.03.2022
国際出願番号 PCT/JP2021/016671
国際出願日 26.04.2021
IPC
G01N 35/02 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
35グループG01N1/00~G01N33/00のいずれか1つに分類される方法または材料に限定されない自動分析;そのための材料の取扱い
021以上の処理位置または分析位置へコンベア系によって移動させられる多数の試料容器を用いるもの
H01J 49/00 2006.1
H電気
01基本的電気素子
J電子管または放電ランプ
49粒子分光器または粒子分離管
H01J 49/04 2006.1
H電気
01基本的電気素子
J電子管または放電ランプ
49粒子分光器または粒子分離管
02細部
04分析材料導入取り出しのための装置,例.真空封止;電子光学的またはイオン光学的構成体の外部調節装置
H01J 49/16 2006.1
H電気
01基本的電気素子
J電子管または放電ランプ
49粒子分光器または粒子分離管
02細部
10イオン源;イオン銃
16表面電離を利用するもの,例.電界放出,熱放出または光放出
G01N 27/62 2021.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
CPC
G01N 27/62
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
62by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
G01N 35/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
02using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
H01J 49/00
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
H01J 49/04
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
H01J 49/16
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
10Ion sources; Ion guns
16using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
出願人
  • 株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 大久保 達樹 OKUBO, Tatsuki
  • 押川 倫憲 OSHIKAWA, Tomonori
  • 小林 裕子 KOBAYASHI, Yuko
  • 田井中 善樹 TAINAKA, Yoshiki
  • 鈴木 晃平 SUZUKI, Kohei
代理人
  • 特許業務法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE
優先権情報
2020-14682301.09.2020JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) ANALYSIS WORK ASSISTANCE DEVICE AND ANALYSIS WORK ASSISTANCE SOFTWARE
(FR) DISPOSITIF D'ASSISTANCE AU TRAVAIL D'ANALYSE ET LOGICIEL D'ASSISTANCE AU TRAVAIL D'ANALYSE
(JA) 分析作業支援装置及び分析作業支援ソフトウェア
要約
(EN) A device (4) for assisting analysis work for carrying out a protocol involving disposing prescribed samples in prescribed all or part of sample placement parts from among a plurality of sample placement parts provided in a sample accommodation member and measuring the samples, the device (4) comprising: a storage unit (41) in which a plurality of protocols are stored; a display unit (6); a protocol selection input reception unit (42) for receiving input for selecting a protocol; a sample position display unit (43) for displaying, on the display unit, information about the sample placement part positions and samples corresponding to the protocol input to the protocol selection input reception unit; a display item selection unit (653) for receiving a selection of one or both of the sample placement part position information and the sample information; and a display switching unit (44) for switching the display by the sample position display unit according to the selection made via the display item selection unit.
(FR) L'invention concerne un dispositif (4) d'assistance au travail d'analyse conçu en vue de mettre en œuvre un protocole impliquant la disposition d'échantillons prescrits dans tout ou partie de pièces de placement d'échantillon prescrites parmi une pluralité de pièces de placement d'échantillon logées dans un élément de réception d'échantillon et la mesure des échantillons, ledit dispositif (4) comprenant : une unité de stockage (41) dans laquelle une pluralité de protocoles sont stockés ; une unité d'affichage (6) ; une unité de réception d'entrée de sélection de protocole (42) destinée à recevoir une entrée afin de sélectionner un protocole ; une unité d'affichage de position d'échantillon (43) pour afficher, sur l'unité d'affichage, des informations concernant les positions de pièces de placement d'échantillon et des échantillons correspondant à l'entrée de protocole dans l'unité de réception d'entrée de sélection de protocole ; une unité de sélection d'élément d'affichage (653) destinée à recevoir une sélection d'une ou des deux informations de position de pièces de placement d'échantillon et des informations d'échantillon ; et une unité de commutation d'affichage (44) destinée à commuter l'affichage par l'unité d'affichage de position d'échantillon en fonction de la sélection effectuée par l'intermédiaire de l'unité de sélection d'élément d'affichage.
(JA) 試料収容部材に設けられた複数の試料配置部のうちの所定の全部又は一部の試料配置部にそれぞれ所定の試料を配置して測定するというプロトコルを実行する分析作業を支援する装置(4)であって、複数のプロトコルが保存された記憶部(41)と、表示部(6)と、プロトコルを選択する入力を受け付けるプロトコル選択入力受付部(42)と、プロトコル選択入力受付部に入力されたプロトコルに対応する試料配置部の位置及び試料の情報を表示部に表示する試料位置表示部(43)と、試料配置部の位置の情報及び試料の情報の一方又は両方の選択を受け付ける表示項目選択部(653)と、表示項目選択部を通じた選択に応じて試料位置表示部による表示を切り替える表示切替部(44)とを備える。
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