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1. WO2021261003 - 電子制御装置

公開番号 WO/2021/261003
公開日 30.12.2021
国際出願番号 PCT/JP2021/005155
国際出願日 12.02.2021
IPC
H01L 21/82 2006.1
H電気
01基本的電気素子
L半導体装置,他に属さない電気的固体装置
21半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置
701つの共通基板内または上に形成された複数の固体構成部品または集積回路からなる装置またはその特定部品の製造または処理;集積回路装置またはその特定部品の製造
771つの共通基板内または上に形成される複数の固体構成部品または集積回路からなる装置の製造または処理
78複数の別個の装置に基板を分割することによるもの
82それぞれが複数の構成部品からなる装置,例.集積回路の製造
G01R 31/28 2006.1
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
G06F 30/3308 2020.1
G物理学
06計算;計数
F電気的デジタルデータ処理
30計算機利用設計[2020.01]
30回路の設計
32デジタルレベル回路設計
33設計検証,例.機能シミュレーションまたはモデル検証
3308シミュレーションを用いるもの
G06F 30/33 2020.1
G物理学
06計算;計数
F電気的デジタルデータ処理
30計算機利用設計[2020.01]
30回路の設計
32デジタルレベル回路設計
33設計検証,例.機能シミュレーションまたはモデル検証
出願人
  • 日立Astemo株式会社 HITACHI ASTEMO, LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 山本 雅文 YAMAMOTO Masafumi
代理人
  • 戸田 裕二 TODA Yuji
優先権情報
2020-10951625.06.2020JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) ELECTRONIC CONTROL DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE COMMANDE ÉLECTRONIQUE
(JA) 電子制御装置
要約
(EN) Provided are a semiconductor device and an electronic control device using the same, the semiconductor device comprising a rewritable logic circuit unit and achieving reduced size, weight, and cost while ensuring a highly reliable operation test function. This electronic control device is characterized by comprising a semiconductor device having a logic-rewritable logic circuit unit, wherein the semiconductor device comprises a random pattern generating circuit provided at a previous stage of the logic circuit unit, and a comparison circuit provided at a subsequent stage of the logic circuit unit and holding an expected value corresponding to a random pattern used at the time of designing the logic of a logic circuit written in the logic circuit unit.
(FR) L'invention concerne un dispositif à semi-conducteur et un dispositif de commande électronique l'utilisant, le dispositif à semi-conducteur comprenant une unité de circuit logique réinscriptible et permettant d'obtenir une taille, un poids et un coût réduits tout en assurant une fonction d'essai de fonctionnement hautement fiable. Ce dispositif de commande électronique est caractérisé en ce qu'il comprend un dispositif à semi-conducteur ayant une unité de circuit logique à logique réinscriptible, le dispositif à semi-conducteur comprenant un circuit de génération de motif aléatoire disposé au niveau d'un étage précédent de l'unité de circuit logique, et un circuit de comparaison disposé au niveau d'un étage suivant de l'unité de circuit logique et maintenant une valeur attendue correspondant à un motif aléatoire utilisé au moment de la conception de la logique d'un circuit logique écrit dans l'unité de circuit logique.
(JA) 書換え可能な論理回路部を備える半導体装置において、信頼性の高い動作テスト機能を確保しつつ、小型・軽量化および低コスト化が可能な半導体装置とそれを用いた電子制御装置を提供する。 論理を書き換え可能な論理回路部を有する半導体装置を備える電子制御装置であって、前記半導体装置は、前記論理回路部の上段に設けられるランダムパタン発生回路と、前記論理回路部の下段に設けられ、前記論理回路部に書き込まれた論理回路の論理設計時に用いたランダムパタンに対応する期待値を保持する比較回路と、を有することを特徴とする。
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