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1. WO2021054376 - 学習処理装置及び検査装置

公開番号 WO/2021/054376
公開日 25.03.2021
国際出願番号 PCT/JP2020/035141
国際出願日 16.09.2020
IPC
G01N 21/88 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
88きず,欠陥,または汚れの存在の調査
G01N 21/90 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
88きず,欠陥,または汚れの存在の調査
90容器中またはその内容物
G06T 7/00 2017.01
G物理学
06計算;計数
Tイメージデータ処理または発生一般
7イメージ分析
CPC
G01N 21/88
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
G01N 21/90
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
90in a container or its contents
G06T 7/00
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
出願人
  • シンテゴンテクノロジー株式会社 SYNTEGON TECHNOLOGY K.K. [JP]/[JP]
発明者
  • 和田 謙 WADA Ken
代理人
  • 特許業務法人YKI国際特許事務所 YKI Intellectual Property Attorneys
優先権情報
2019-16812717.09.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) LEARNING PROCESS DEVICE AND INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE PROCESSUS D'APPRENTISSAGE ET DISPOSITIF D'INSPECTION
(JA) 学習処理装置及び検査装置
要約
(EN)
Provided is a learning processing device (30) which is based on a neural network model and image data obtained by capturing an image of the object to be inspected, and constructs the neural network model used for inspecting the object to be inspected, the learning processing device (30) being provided with a learning unit (30) which performs a learning process under a prescribed learning condition on the basis of a list of the image data including a plurality of learning images and constructs the neutral network model, wherein the learning unit (30) embeds unique model identification data in the neural network model, whenever the neural network model is constructed.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de traitement d'apprentissage (30) qui est basé sur un modèle de réseau neuronal et des données d'image obtenues par capture d'une image de l'objet à inspecter, et qui construit le modèle de réseau neuronal utilisé pour inspecter l'objet à inspecter, le dispositif de traitement d'apprentissage (30) étant pourvu d'une unité d'apprentissage (30) qui effectue un processus d'apprentissage sous une condition d'apprentissage prescrite sur la base d'une liste des données d'image comprenant une pluralité d'images d'apprentissage et qui construit le modèle de réseau neutre, l'unité d'apprentissage (30) incorporant des données d'identification de modèle unique dans le modèle de réseau neuronal, chaque fois que le modèle de réseau neuronal est construit.
(JA)
検査対象物を撮像した画像データとニューラルネットワークモデルとに基づく検査対象物の検査に用いられるニューラルネットワークモデルを構築する学習処理装置(30)であって、学習処理装置(30)は、複数の学習用画像を含む画像データのリストに基づいて所定の学習条件で学習処理を行ってニューラルネットワークモデルを構築する学習部(30)を備え、学習部(30)は、ニューラルネットワークモデルを構築するごとに、当該ニューラルネットワークモデルに固有のモデル識別データを埋め込む。
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