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1. WO2021039160 - 応力解析装置

公開番号 WO/2021/039160
公開日 04.03.2021
国際出願番号 PCT/JP2020/027271
国際出願日 13.07.2020
IPC
G01N 25/20 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
25熱的手段の利用による材料の調査または分析
20発生熱の調査によるもの,すなわち熱量測定によるもの,例.比熱の測定によるもの,熱伝導度の測定によるもの
G01N 3/32 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
3機械的応力の負荷による固体材料の強さの調査
32繰返し力または脈動力の適用によるもの
G01J 5/48 2006.01
G物理学
01測定;試験
J赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
5放射温度計
48全体的視覚手段によるもの
CPC
G01J 5/48
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
5Radiation pyrometry
48using wholly visual means
G01N 25/20
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
25Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
20by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity
G01N 3/32
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
3Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
32by applying repeated or pulsating forces
出願人
  • パナソニックIPマネジメント株式会社 PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 入江 庸介 IRIE, Yousuke
  • 井上 裕嗣 INOUE, Hirotsugu
  • 廣田 道泰 HIROTA, Michiyasu
代理人
  • 山尾 憲人 YAMAO, Norihito
  • 岡部 博史 OKABE, Hiroshi
優先権情報
2019-15845330.08.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) STRESS ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE DE CONTRAINTE
(JA) 応力解析装置
要約
(EN)
Provided is a stress analysis device whereby a stress image having further improved precision is obtained. This stress analysis device comprises an imaging element for acquiring two or more temperature images of the same region of an object over the same time range, a feature point extraction unit for extracting a feature point in the temperature images, a projective transformation unit for performing positional alignment with a temperature image serving as a reference by performing projective transformation of the temperature images so as to match feature points in the temperature images, a pixel rearrangement unit for rearranging the pixel arrangement of the projectively transformed temperature images with respect to the pixel arrangement of the temperature image serving as the reference, a stress conversion unit for obtaining stress images by multiplying each pixel-rearranged temperature image by a stress conversion coefficient, and an averaging unit for obtaining an average stress image by averaging the stress images.
(FR)
L'invention concerne un dispositif d'analyse de contrainte permettant d'obtenir une image de contrainte présentant une précision améliorée. Le dispositif d'analyse de contrainte selon l'invention comprend un élément d'imagerie permettant d'acquérir au moins deux images de température de la même région d'un objet sur la même plage temporelle, une unité d'extraction de point caractéristique permettant d'extraire un point caractéristique dans les images de température, une unité de transformation projective permettant d'effectuer un alignement de position avec une image de température servant de référence par réalisation d'une transformation projective des images de température de façon à faire correspondre des points caractéristiques dans les images de température, une unité de réagencement de pixels permettant de réagencer l'agencement de pixels des images de température transformées de manière projective par rapport à l'agencement de pixels de l'image de température servant de référence, une unité de conversion de contrainte permettant d'obtenir des images de contrainte par multiplication de chaque image de température à pixels réagencés par un coefficient de conversion de contrainte, et une unité de moyennage permettant d'obtenir une image de contrainte moyenne par moyennage des images de contrainte.
(JA)
より改善された精度の応力画像が得られる応力解析装置を提供する。応力解析装置は、対象物の同一領域について同一の時間範囲にわたって2以上の温度画像を取得する撮像素子と、各温度画像の中の特徴点を抽出する特徴点抽出部と、各温度画像の中の特徴点を合わせるように、各温度画像について射影変換を行って、基準となる温度画像に対して位置合わせを行う射影変換部と、射影変換を行った各温度画像の画素配列を、基準となる温度画像の画素配列に対して再配列する画素再配列部と、画素再配列後の各温度画像について、応力変換係数を乗じて各応力画像を得る応力変換部と、各応力画像を加算平均して加算平均応力画像を得る加算平均部と、を備える。
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