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1. WO2020262557 - 検卵装置、検卵プログラム、および検卵方法

公開番号 WO/2020/262557
公開日 30.12.2020
国際出願番号 PCT/JP2020/025099
国際出願日 25.06.2020
予備審査請求日 14.12.2020
IPC
G01N 21/27 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27光電検出器を用いるもの
G01N 21/88 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
88きず,欠陥,または汚れの存在の調査
G06N 3/04 2006.1
G物理学
06計算;計数
N特定の計算モデルに基づくコンピュータ・システム
3生物学的モデルに基づくコンピュータシステム
02ニューラルネットワークモデルを用いるもの
04アーキテクチャ,例.網構造
G06N 3/08 2006.1
G物理学
06計算;計数
N特定の計算モデルに基づくコンピュータ・システム
3生物学的モデルに基づくコンピュータシステム
02ニューラルネットワークモデルを用いるもの
08学習方法
G06N 20/00 2019.1
G物理学
06計算;計数
N特定の計算モデルに基づくコンピュータ・システム
20機械学習
CPC
G01N 21/27
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
27using photo-electric detection
G01N 21/88
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
G06N 20/00
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
NCOMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
20Machine learning
G06N 3/04
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
NCOMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
3Computer systems based on biological models
02using neural network models
04Architectures, e.g. interconnection topology
G06N 3/08
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
NCOMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
3Computer systems based on biological models
02using neural network models
08Learning methods
出願人
  • 四国計測工業株式会社 SHIKOKU INSTRUMENTATION CO., LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 大西 英希 ONISHI, Hideki
  • 松原 弘樹 MATSUBARA, Hiroki
  • 清水 一範 SHIMIZU, Kazunori
代理人
  • 須藤 晃伸 SUDO, Akinobu
  • 須藤 阿佐子 SUDO, Asako
優先権情報
2019-12142428.06.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) EGG INSPECTION DEVICE, EGG INSPECTION PROGRAM, AND EGG INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF, PROGRAMME ET PROCÉDÉ D'INSPECTION D'ŒUF
(JA) 検卵装置、検卵プログラム、および検卵方法
要約
(EN) [Problem] To provide an egg inspection device, an egg inspection program, and an egg inspection method by which a defect factor of a defective egg can be identified with high accuracy. [Solution] The present invention includes: a first determination means 32 for using a first trained model created in advance using egg images as teaching data, and determining whether an egg has a first defect factor; a second determination means 32 for using a second trained model which was created in advance using egg images as teaching data and which is different from the first trained model, and determining whether the egg has a second defect factor which differs from the first defect factor; imaging means 10, 20 for projecting light on an egg to be inspected, and capturing an image of the egg to be inspected; and a control means. The control means: determines whether the egg to be inspected has a defect factor by causing the first determination means and/or the second determination means to determine a defect factor of the egg to be inspected on the basis of the image of the egg to be inspected; and if the egg to be inspected has any defect factor, determines said defect factor.
(FR) La présente invention a pour but de fournir un dispositif d'inspection d'œuf, un programme d'inspection d'œuf et un procédé d'inspection d'œuf grâce auxquels un facteur de défaut d'un œuf défectueux peut être identifié avec une grande précision. Pour atteindre ce but, l'invention comprend : un premier moyen de détermination (32) qui permet d'utiliser un premier modèle formé, créé à l'avance à l'aide d'images d’œuf en tant que données d'apprentissage, et de déterminer si un œuf présente un premier facteur de défaut ; un second moyen de détermination (32) qui permet d'utiliser un second modèle formé, créé à l'avance à l'aide d'images d’œuf en tant que données d'apprentissage et différent du premier modèle formé, et de déterminer si l’œuf présente un second facteur de défaut différent du premier facteur de défaut ; des moyens d'imagerie (10, 20) qui permettent de projeter de la lumière sur un œuf à inspecter, et de capturer une image de l’œuf à inspecter ; un moyen de commande. Le moyen de commande : détermine si l’œuf à inspecter présente un facteur de défaut en amenant le premier moyen de détermination et/ou le second moyen de détermination à déterminer un facteur de défaut de l’œuf à inspecter en fonction de l'image de l’œuf à inspecter ; si l’œuf à inspecter présente un quelconque facteur de défaut, détermine ledit facteur de défaut.
(JA) 課題:不良卵の不良の要因を高い精度で特定することができる、検卵装置、検卵プログラム、および検卵方法を提供する。 解決手段:卵の画像を教師データとして予め作成された第1学習済みモデルを用いて、卵が第1の不良要因を有するかを判別する第1判別手段32と、卵の画像を教師データとして予め作成された、第1学習済みモデルとは異なる第2学習済みモデルを用いて、卵が、第1の不良要因とは異なる第2の不良要因を有するかを判別する第2判別手段32と、検査対象卵に光を照射して検査対象卵の画像を撮像する撮像手段10,20と、制御手段32とを有し、前記制御手段は、前記検査対象卵の画像に基づいて、前記第1判別手段および/または前記第2判別手段に検査対象卵の不良要因を判別させることで、検査対象卵が不良要因を有するか否か判別し、検査対象卵が不良要因を有する場合には当該不良要因を判別する。
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