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1. WO2020261377 - 半導体装置、制御フロー検査方法、非一時的なコンピュータ可読媒体及び電子機器

公開番号 WO/2020/261377
公開日 30.12.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/025133
国際出願日 25.06.2019
IPC
G06F 11/36 2006.1
G物理学
06計算;計数
F電気的デジタルデータ処理
11エラー検出;エラー訂正;監視
36ソフトウェアを検査またはデバッグすることによるエラー防止
CPC
G06F 11/36
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
36Preventing errors by testing or debugging software
出願人
  • 日本電気株式会社 NEC CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • ジャダ アスタ JADA Astha
  • 小林 俊輝 KOBAYASHI Toshiki
  • 佐々木 貴之 SASAKI Takayuki
  • アソーニ ダニエレ エンリコ ASONI Daniele Enrico
  • ぺリグ アドリアン PERRIG Adrian
代理人
  • 家入 健 IEIRI Takeshi
優先権情報
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SEMICONDUCTOR DEVICE, CONTROL FLOW DETECTION METHOD, NON-TRANSITORY COMPUTER-READABLE MEDIUM, AND ELECTRONIC EQUIPMENT
(FR) DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEURS, PROCÉDÉ D'INSPECTION DE FLUX DE COMMANDE, SUPPORT NON-TEMPORAIRE LISIBLE PAR ORDINATEUR STOCKANT UN PROGRAMME, ET APPAREIL ÉLECTRONIQUE
(JA) 半導体装置、制御フロー検査方法、非一時的なコンピュータ可読媒体及び電子機器
要約
(EN) This semiconductor device (100) comprises: a first storage means (110) in which a plurality of pieces of execution order checking information (111-11n) used for checking an execution order of a plurality of code blocks in a predetermined program is stored in advance; a second storage means (120) which is a cache for the first storage means; and a prediction means (130) that predicts, on the basis of prediction auxiliary information in a first code block of the plurality of code blocks and a control flow graph in the program, a storage area for the execution order checking information to be prefetched from the first storage means to the second storage means.
(FR) Le dispositif à semi-conducteurs (100) de l'invention est équipé : d'un premier moyen de mémoire (110) dans laquelle une pluralité d'informations d'inspection de séquence d'exécution (111 à 11n) mise en œuvre dans l'inspection d'une séquence d'exécution d'une pluralité de blocs de code à l'intérieur d'un programme prédéfini, est mémorisée au préalable ; d'un second moyen de mémoire (120) qui consiste en un cache vis-à-vis du premier moyen de mémoire ; et d'un moyen de prévision (130) qui prévoit une région de stockage des informations d'inspection de séquence d'exécution consistant en un objet de préanalyse pour le second moyen de mémoire, dans le premier moyen de mémoire, sur la base d'informations d'aide à la prévision dans un premier bloc de code parmi la pluralité de blocs de code et d'un diagramme de contrôle dans le programme.
(JA) 半導体装置(100)は、所定のプログラム内の複数のコードブロックの実行順序の検査に用いる複数の実行順序検査情報(111~11n)が予め記憶された第1の記憶手段(110)と、第1の記憶手段に対するキャッシュである第2の記憶手段(120)と、複数のコードブロックのうち第1のコードブロックにおける予測補助情報とプログラムにおける制御フローグラフとに基づいて、第1の記憶手段の中から、第2の記憶手段へのプリフェッチ対象となる実行順序検査情報の格納領域を予測する予測手段(130)と、を備える。
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