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1. WO2020261365 - 半導体装置、制御フロー検査方法、非一時的なコンピュータ可読媒体及び電子機器

公開番号 WO/2020/261365
公開日 30.12.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/025100
国際出願日 25.06.2019
IPC
G06F 21/54 2013.1
G物理学
06計算;計数
F電気的デジタルデータ処理
21不正行為から計算機,その部品,プログラムまたはデータを保護するためのセキュリティ装置
50プラットフォーム,(例.プロセッサ,ファームウェアまたはOS)の完全性を維持するために、ユーザー,プログラムまたはデバイスを監視するもの
52プログラムの実行中に,例えばスタックの完全性,バッファのオーバーフローまたは望まないデータ消去を防止するもの
54セキュリティルーチンまたはオブジェクトをプログラムに追加することによるもの
CPC
G06F 21/54
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
21Security arrangements for protecting computers, components thereof, programs or data against unauthorised activity
50Monitoring users, programs or devices to maintain the integrity of platforms, e.g. of processors, firmware or operating systems
52during program execution, e.g. stack integrity ; ; Preventing unwanted data erasure; Buffer overflow
54by adding security routines or objects to programs
出願人
  • 日本電気株式会社 NEC CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • ジャダ アスタ JADA Astha
  • 小林 俊輝 KOBAYASHI Toshiki
  • 佐々木 貴之 SASAKI Takayuki
  • アソーニ ダニエレ エンリコ ASONI Daniele Enrico
  • ぺリグ アドリアン PERRIG Adrian
代理人
  • 家入 健 IEIRI Takeshi
優先権情報
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SEMICONDUCTOR DEVICE, CONTROL FLOW INSPECTION METHOD, NON-TRANSITORY COMPUTER-READABLE MEDIUM, AND ELECTRONIC APPARATUS
(FR) DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEURS, PROCÉDÉ D'INSPECTION DE FLUX DE COMMANDE, SUPPORT NON-TEMPORAIRE LISIBLE PAR ORDINATEUR STOCKANT UN PROGRAMME, ET APPAREIL ÉLECTRONIQUE
(JA) 半導体装置、制御フロー検査方法、非一時的なコンピュータ可読媒体及び電子機器
要約
(EN) A semiconductor device (100) comprises: a determination unit (110) that determines whether a condition for avoidance of control flow integrity inspection is satisfied (e.g., a degree of similarly with a past input value is within a prescribed range), said determination carried out on the basis of determination assistance information, which is at least an input value in a target code block to be executed among a plurality of code blocks within a prescribed program; and an inspection unit (120) that avoids the control flow integrity inspection in the target code block when it is determined that the condition for avoidance is satisfied.
(FR) Le dispositif à semi-conducteurs (100) de l'invention est équipé : d'une partie jugement (110) qui juge si des conditions d'évitement de détection de cohérence de flux de commande sont satisfaisantes ou non (par exemple, si le degré de similitude avec une valeur entrée passée se trouve dans une plage prédéfinie), sur la base d'informations d'aide au jugement qui consistent au moins en des valeurs d'entrée dans un bloc de code objet consistant en un objet d'exécution parmi une pluralité de blocs de code à l'intérieur d'un programme prédéfini ; et d'une partie inspection (120) qui évite l'inspection de cohérence de flux de commande dans le bloc de code objet, dans le cas où les conditions d'évitement sont jugées satisfaisantes.
(JA) 半導体装置(100)は、所定のプログラム内の複数のコードブロックのうち実行対象である対象コードブロックにおける少なくとも入力値である判定補助情報に基づき、制御フロー整合性の検査の回避条件を満たす(例えば、過去の入力値との類似度合いが所定範囲である)か否かの判定を行う判定部(110)と、回避条件を満たすと判定した場合に、対象コードブロックにおける制御フロー整合性の検査を回避する検査部(120)と、を備える。
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