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1. WO2020250537 - 光学計測装置、サーバ装置、及び光学計測方法

公開番号 WO/2020/250537
公開日 17.12.2020
国際出願番号 PCT/JP2020/012480
国際出願日 19.03.2020
IPC
G01N 21/05 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
01光学的調査を容易に行なうための配置または装置
03キュベット構造
05フロースルーキュベット
G01N 21/27 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27光電検出器を用いるもの
CPC
G01N 21/05
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
03Cuvette constructions
05Flow-through cuvettes
G01N 21/27
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
27using photo-electric detection
出願人
  • 株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 神林 琢也 KAMBAYASHI Takuya
  • 野口 利光 NOGUCHI Toshimitsu
  • 河野 駿介 KONO Shunsuke
  • 野島 彰紘 NOJIMA Akihiro
代理人
  • 特許業務法人 湘洋内外特許事務所 SHOYO INTELLECTUAL PROPERTY FIRM
優先権情報
2019-10932212.06.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) OPTICAL MEASUREMENT INSTRUMENT, SERVER DEVICE, AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD
(FR) INSTRUMENT DE MESURE OPTIQUE, DISPOSITIF SERVEUR ET PROCÉDÉ DE MESURE OPTIQUE
(JA) 光学計測装置、サーバ装置、及び光学計測方法
要約
(EN) The present invention more easily incorporates, into an optical measurement system, an arithmetic expression used to estimate a target item of a specimen. This optical measurement instrument is characterized by being provided with: an optical analysis unit which performs optical analysis on a specimen and makes a measurement of light intensity as a result of the optical analysis; and an arithmetic processing unit which downloads an arithmetic expression from a server device via a network, and then performs quantitative analysis on a target substance contained in the specimen by substituting, in the arithmetic expression, the result of the optical analysis performed by the optical analysis unit.
(FR) La présente invention incorpore plus facilement, dans un système de mesure optique, une expression arithmétique utilisée pour estimer un élément cible d'un spécimen. Cet instrument de mesure optique est caractérisé en ce qu'il comprend : une unité d'analyse optique qui effectue une analyse optique sur un échantillon et effectue une mesure de l'intensité lumineuse en conséquence de l'analyse optique ; et une unité de traitement arithmétique qui télécharge une expression arithmétique à partir d'un dispositif serveur par l'intermédiaire d'un réseau, et effectue ensuite une analyse quantitative sur une substance cible contenue dans l'échantillon en substituant, dans l'expression arithmétique, le résultat de l'analyse optique effectuée par l'unité d'analyse optique.
(JA) 試料のターゲット項目を推定するために用いる演算式を、より容易に光学計測システムに組み込む。 光学計測装置は、試料に対して光学分析を行い、前記光学分析の結果として光の強度を計測する光学分析部と、サーバ装置からネットワークを介して演算式をダウンロードし、前記光学分析部による前記光学分析の結果を前記演算式に代入して、前記試料に含まれるターゲット物質の定量分析を行う演算処理部と、を備えることを特徴とする。
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