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1. WO2020246085 - 点検支援システム

公開番号 WO/2020/246085
公開日 10.12.2020
国際出願番号 PCT/JP2020/008486
国際出願日 28.02.2020
IPC
G05D 1/02 2020.1
G物理学
05制御;調整
D非電気的変量の制御または調整系
1陸用,水用,空中用,宇宙用運行体の位置,進路,高度または姿勢の制御,例.自動操縦
02二次元の位置または進路の制御
G01N 21/84 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
G01N 21/88 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
88きず,欠陥,または汚れの存在の調査
CPC
G01N 21/84
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
G01N 21/88
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
G05D 1/02
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
DSYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
1Control of position, course or altitude of land, water, air, or space vehicles, e.g. automatic pilot
02Control of position or course in two dimensions
出願人
  • 株式会社イクシス IXS CO., LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 山崎 文敬 YAMASAKI, Fuminori
  • 狩野 高志 KARINO, Takashi
代理人
  • 右田 俊介 MIGITA, Shunsuke
優先権情報
2019-10383403.06.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) INSPECTION ASSISTANCE SYSTEM
(FR) SYSTÈME D’AIDE À L’INSPECTION
(JA) 点検支援システム
要約
(EN) Provided is an inspection assistance system that can improve work efficiency or work accuracy pertaining to the inspection of structures. The present invention is characterized in that: a self-traveling device 100 self-travels to a target position on the basis of a travel command based on a first inspection image, and captures an image of an imaging target included in the first inspection image to acquire a second inspection image; and an information processing device 200 extracts a conforming target suitable for the imaging target included in the first inspection image, from among imaging targets included in the second inspection image, and associates, with the conforming target, specific information that identifiably specifies the imaging target included in the first inspection image conforming to the conforming target.
(FR) L'invention concerne un système d'aide à l'inspection qui peut améliorer l'efficacité de travail ou la précision de travail concernant l'inspection de structures. La présente invention est caractérisée en ce que : un dispositif à déplacement autonome (100) se déplace de manière autonome vers une position cible sur la base d'une instruction de déplacement sur la base d'une première image d'inspection et capture une image d'une cible d'imagerie incluse dans la première image d'inspection pour acquérir une seconde image d'inspection ; et un dispositif de traitement d'informations (200) extrait une cible de conformation appropriée pour la cible d'imagerie incluse dans la première image d'inspection, parmi des cibles d'imagerie incluses dans la seconde image d'inspection, et associe, à la cible de conformation, des informations spécifiques qui spécifient de manière identifiable la cible d'imagerie incluse dans la première image d'inspection se conformant à la cible de conformation.
(JA) 構造物の点検に係る作業効率や作業精度を向上させることができる点検支援システムを提供する。自走装置100は、第一の点検画像に基づく走行コマンドに基づいて目標位置まで自走して、第一の点検画像に含まれる撮影対象を撮影して第二の点検画像を取得し、情報処理装置200は、第二の点検画像に含まれる撮影対象の中から第一の点検画像に含まれる撮影対象に適合する適合対象を抽出し、適合対象と適合した第一の点検画像に含まれる撮影対象を識別可能に特定する特定情報を、当該適合対象に対応付ける、ことを特徴とする。
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