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1. WO2020245970 - 分析装置

公開番号 WO/2020/245970
公開日 10.12.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/022501
国際出願日 06.06.2019
IPC
G01H 17/00 2006.1
G物理学
01測定;試験
H機械振動または超音波,音波または亜音波の測定
17このサブクラスの他のグループに分類されない機械的振動または超音波,音波または亜音波の測定
G01M 99/00 2011.1
G物理学
01測定;試験
M機械または構造物の静的または動的つり合い試験;他に分類されない構造物または装置の試験
99このサブクラスの他のグループに分類されない主題事項
CPC
G01H 17/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
HMEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
17Measuring mechanical vibrations or ultrasonic, sonic or infrasonic waves, not provided for in the preceding groups
G01M 99/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
99Subject matter not provided for in other groups of this subclass
出願人
  • 三菱電機ビルテクノサービス株式会社 MITSUBISHI ELECTRIC BUILDING TECHNO-SERVICE CO., LTD. [JP]/[JP]
  • 三菱電機株式会社 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP]/[JP] (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JO, JP, KE, KG, KH, KM, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW)
発明者
  • 中谷 彰宏 NAKAYA, Akihiro
  • 安部 雅哉 ABE, Masaya
  • 橋爪 哲朗 HASHIZUME, Tetsuro
  • 阿部 芳春 ABE, Yoshiharu
  • 寺島 英明 TERASHIMA, Hideaki
代理人
  • 高田 守 TAKADA, Mamoru
  • 高橋 英樹 TAKAHASHI, Hideki
優先権情報
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE
(JA) 分析装置
要約
(EN) An analysis device (1) is provided with, e.g., a sensor (2), an analysis unit (4), an analysis unit (5), an analysis unit (6), and an integration unit (7). The analysis unit (5) divides a spectrogram acquired by the analysis unit (4) into a plurality of frequency bands, and acquires a band intensity time series for each of the plurality of frequency bands. The analysis unit (6) acquires intensity spectrograms that correspond to each of the band intensity time series. The integration unit (7) integrates the plurality of intensity spectrograms acquired by the analysis unit (6), thereby acquiring an integrated spectrogram.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'analyse (1) qui est pourvu, par exemple d'un capteur (2), d'une unité d'analyse (4), d'une unité d'analyse (5), d'une unité d'analyse (6) et d'une unité d'intégration (7). L'unité d'analyse (5) divise un spectrogramme acquis par l'unité d'analyse (4) en une pluralité de bandes de fréquences, et acquiert une série chronologique d'intensité de bande pour chaque bande de la pluralité de bandes de fréquences. L'unité d'analyse (6) acquiert des spectrogrammes d'intensité qui correspondent à chaque intensité de la série chronologique d'intensité de bande. L'unité d'intégration (7) intègre la pluralité de spectrogrammes d'intensité acquis par l'unité d'analyse (6), ce qui permet d'acquérir un spectrogramme intégré.
(JA) 分析装置(1)は、例えばセンサ(2)、分析部(4)、分析部(5)、分析部(6)、及び統合部(7)を備える。分析部(5)は、分析部(4)によって取得されたスペクトログラムを複数の周波数帯域に分割し、複数の周波数帯域のそれぞれについて帯域強度時系列を取得する。分析部(6)は、帯域強度時系列のそれぞれに対応する強度スペクトログラムを取得する。統合部(7)は、分析部(6)によって取得された複数の強度スペクトログラムを統合することにより、統合スペクトログラムを取得する。
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