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1. WO2020245964 - 質量分析装置及び質量分析方法

公開番号 WO/2020/245964
公開日 10.12.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/022464
国際出願日 06.06.2019
IPC
H01J 49/04 2006.1
H電気
01基本的電気素子
J電子管または放電ランプ
49粒子分光器または粒子分離管
02細部
04分析材料導入取り出しのための装置,例.真空封止;電子光学的またはイオン光学的構成体の外部調節装置
CPC
H01J 49/04
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
出願人
  • 株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 田川 雄介 TAGAWA, Yusuke
  • 石川 勇樹 ISHIKAWA, Yuki
代理人
  • 特許業務法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE
優先権情報
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) MASS SPECTROMETRY DEVICE AND MASS SPECTROMETRY METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE SPECTROMÉTRIE DE MASSE
(JA) 質量分析装置及び質量分析方法
要約
(EN) A mass spectrometry device according to an embodiment of the present invention is provided with: an ionization unit (31); a mass separation unit (32); a detection unit (33); a first-measurement execution control unit (41) for controlling the ionization unit (31) and the like to repeatedly execute a first measurement on a target sample while changing the values of multiple parameters defined as device parameters; a second-measurement execution control unit (42) for controlling the ionization unit (31) and the like to execute a second measurement on the target sample with each parameter value of the device parameters being set to a predetermined reference value at two times or more from among before the start of the repetition of the first measurement, after the completion thereof, or during the repetition thereof; a correction processing unit (53) for correcting the results of the first measurement using the results of the second measurement executed at the two times or more; and a device parameter-related information acquisition unit (54, 55) for determining device parameters using the corrected measurement results, or acquiring reference information with which to determine the device parameters.
(FR) Un dispositif de spectrométrie de masse selon un mode de réalisation de la présente invention comprend : une unité d'ionisation (31) ; une unité de séparation de masse (32) ; une unité de détection (33) ; une unité de commande d'exécution de première mesure (41) pour commander l'unité d'ionisation (31) et similaire pour exécuter de façon répétée une première mesure sur un échantillon cible tout en changeant les valeurs de multiples paramètres définis en tant que paramètres de dispositif ; une unité de commande d'exécution de seconde mesure (42) pour commander l'unité d'ionisation (31) et similaire pour exécuter une seconde mesure sur l'échantillon cible, chaque valeur de paramètre des paramètres de dispositif étant réglée à une valeur de référence prédéterminée à deux instants ou plus parmi avant le début de la répétition de la première mesure, après son achèvement, ou pendant sa répétition ; une unité de traitement de correction (53) pour corriger les résultats de la première mesure à l'aide des résultats de la seconde mesure exécutée aux deux moments ou plus ; et une unité d'acquisition d'informations relatives à un paramètre de dispositif (54, 55) pour déterminer des paramètres de dispositif à l'aide des résultats de mesure corrigés, ou acquérir des informations de référence avec lesquelles déterminer les paramètres de dispositif.
(JA) 本発明の一態様の質量分析装置は、イオン化部(31)、質量分離部(32)、及び、検出部(33)、を具備し、装置パラメータとして規定されている複数のパラメータの値を変化させつつ目的試料に対する第1の測定を繰り返し実行するように、イオン化部(31)等を制御する第1の測定実行制御部(41)と、第1の測定の繰り返しの開始前、終了後、又は途中のうちの二以上の時点で、装置パラメータにおける各パラメータの値を予め決められた基準値に設定して目的試料に対する第2の測定を実行するように、イオン化部(31)等を制御する第2の測定実行制御部(42)と、二以上の時点で実行された第2の測定の結果を用いて、第1の測定の結果を補正する補正処理部(53)と、その補正後の測定結果を利用して装置パラメータを決定する、又は該装置パラメータを決定するための参照情報を取得する装置パラメータ関連情報取得部(54,55)と、を備える。
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