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1. WO2020240638 - 顕微鏡装置、顕微鏡装置の制御方法、および顕微鏡装置の制御プログラム

公開番号 WO/2020/240638
公開日 03.12.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/020786
国際出願日 24.05.2019
IPC
G02B 21/00 2006.1
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
21顕微鏡
G02B 21/02 2006.1
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
21顕微鏡
02対物レンズ
G02B 21/24 2006.1
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
21顕微鏡
24架台構造
G02B 21/36 2006.1
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
21顕微鏡
36写真撮影用または投影用に構成されたもの
CPC
G02B 21/00
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
G02B 21/02
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
02Objectives
G02B 21/24
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
24Base structure
G02B 21/36
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
36arranged for photographic purposes or projection purposes
出願人
  • 株式会社ニコン NIKON CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 新谷 大和 NIITANI, Yamato
  • 浜田 啓作 HAMADA, Keisaku
  • 吉田 典夫 YOSHIDA, Norio
代理人
  • 大西 正悟 OHNISHI, Shogo
  • 並木 敏章 NAMIKI, Toshiaki
優先権情報
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) MICROSCOPE DEVICE, CONTROL METHOD FOR MICROSCOPE DEVICE, AND CONTROL PROGRAM FOR MICROSCOPE DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MICROSCOPE, PROCÉDÉ DE COMMANDE DE DISPOSITIF DE MICROSCOPE ET PROGRAMME DE COMMANDE DE DISPOSITIF DE MICROSCOPE
(JA) 顕微鏡装置、顕微鏡装置の制御方法、および顕微鏡装置の制御プログラム
要約
(EN) The present invention is a microscope device 1, wherein a microscope control unit (61) calculates information pertaining to the correction amount of an aberration correction unit (51) at a first position in the depth direction of a sample (TP) which is the optical axis direction of an objective lens (26), on the basis of light detected by a detecting unit (41), and calculates information pertaining to the correction amount of the aberration correction unit (51) at a second position different from the first position, on the basis of the calculated information pertaining to the correction amount of the aberration correction unit (51) at the first position and information pertaining to the refractive index of the sample (TP).
(FR) La présente invention concerne un dispositif de microscope 1, une unité de commande de microscope (61) calculant des informations concernant la quantité de correction d'une unité de correction d'aberration (51) à une première position dans la direction de profondeur d'un échantillon (TP) qui est la direction d'axe optique d'une lentille d'objectif (26), sur la base de la lumière détectée par une unité de détection (41), et calcule des informations concernant la quantité de correction de l'unité de correction d'aberration (51) à une seconde position différente de la première position, sur la base des informations calculées concernant la quantité de correction de l'unité de correction d'aberration (51) au niveau de la première position et des informations concernant l'indice de réfraction de l'échantillon (TP).
(JA) 顕微鏡装置1において、顕微鏡制御部(61)は、対物レンズ(26)の光軸方向である試料(TP)の深さ方向の第1の位置における収差補正部(51)の補正量に関する情報を、検出部(41)で検出された光に基づいて算出し、算出した第1の位置における収差補正部(51)の補正量に関する情報と、試料(TP)の屈折率に関する情報とに基づいて、第1の位置と異なる第2の位置における収差補正部(51)の補正量に関する情報を算出する。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報