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1. WO2020218504 - 観察システム、観察方法

公開番号 WO/2020/218504
公開日 29.10.2020
国際出願番号 PCT/JP2020/017681
国際出願日 24.04.2020
IPC
G01Q 60/44 2010.1
G物理学
01測定;試験
Q走査プローブ技術または装置;走査プローブ技術の応用,例.走査プローブ型顕微鏡[2010.01]
60特定の型のSPMまたはそのための装置;その基本的な構成部品
44SICMまたはそのための装置,例.SICM用のプローブ
G01N 21/17 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
G01N 21/65 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
62調査される材料が励起され,それにより光を発しまたは入射光の波長に変化を生ずるシステム
63光学的励起
65ラマン散乱
CPC
G01N 21/17
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
G01N 21/65
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
65Raman scattering
G01Q 60/44
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
44SICM [Scanning Ion-Conductance Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SICM probes
出願人
  • バイオ・アクセラレーター株式会社 BIO-XCELERATOR, INC. [JP]/[JP]
発明者
  • 重川 秀実 SHIGEKAWA, Hidemi
  • 谷中 淳 TANINAKA, Atsushi
代理人
  • 大賀 眞司 OHGA, Shinji
  • 百本 宏之 HYAKUMOTO, Hiroyuki
優先権情報
2019-08577426.04.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) OBSERVATION SYSTEM AND OBSERVATION METHOD
(FR) SYSTÈME D'OBSERVATION ET PROCÉDÉ D'OBSERVATION
(JA) 観察システム、観察方法
要約
(EN) This observation system is provided with: a pipette with an additional metal; a calculation device which measures an ion current that increases or decreases according to the interval between the pipette and a sample; a light source which irradiates excitation light; and a detector which detects Raman spectroscopy locally increased by a metal as Raman spectroscopy obtained by irradiating the sample with the excitation light.
(FR) L'invention concerne un système d'observation qui comprend : une pipette ayant un métal supplémentaire ; un dispositif de calcul qui mesure un courant ionique qui augmente ou diminue en fonction de l'intervalle entre la pipette et un échantillon ; une source de lumière qui irradie une lumière d'excitation ; et un détecteur qui détecte une spectroscopie Raman localement augmentée par un métal en tant que spectroscopie Raman obtenue par l'irradiation de l'échantillon avec la lumière d'excitation.
(JA) 観察システムは、金属を付加したピペットと、ピペットと試料との間隔に応じて増減するイオン電流を測定する演算装置と、励起光を照射する光源と、励起光を試料に照射して得られるラマン分光であって金属により局所増強されたラマン分光を検出する検出器と、を備える。
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