(EN) Provided are: a semiconductor integrated circuit device having an analog circuit and a diagnostic circuit thereof and capable of improving burn-in screening quality by improving a DSP activation rate without operating the diagnostic circuit at the time of wafer level burn-in; and an inspection method for a semiconductor integrated circuit device.
(FR) L'invention concerne : un dispositif de circuit intégré à semi-conducteur comportant un circuit analogique et un circuit de diagnostic de celui-ci et pouvant améliorer la qualité de la sélection lors du vieillissement accéléré par amélioration d'un taux d'activation du DSP sans faire fonctionner le circuit de diagnostic au moment du vieillissement accéléré au niveau de la tranche; et un procédé d'inspection pour un dispositif de circuit intégré à semi-conducteur.
(JA) アナログ回路およびその診断回路を内蔵する半導体集積回路装置において、ウェハレベルバーンイン時に診断回路を動作させることなく、DSPの活性化率向上によるバーンインスクリーニング品質の向上が可能な半導体集積回路装置および半導体集積回路装置の検査方法を提供する。