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1. WO2020194955 - 試料測定装置および測定試料同定方法

公開番号 WO/2020/194955
公開日 01.10.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/050888
国際出願日 25.12.2019
IPC
G01N 30/86 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
30吸着,吸収もしくは類似現象,またはイオン交換,例.クロマトグラフィ,を用いる成分分離による材料の調査または分析
02カラムクロマトグラフィ
86信号解析
出願人
  • 株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 渡辺 覚 WATANABE, Satoru
代理人
  • 宮園 博一 MIYAZONO, Hirokazu
優先権情報
2019-05556722.03.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SAMPLE MEASUREMENT DEVICE AND MEASURED SAMPLE IDENTIFICATION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE D'ÉCHANTILLON ET PROCÉDÉ D'IDENTIFICATION D'ÉCHANTILLON MESURÉ
(JA) 試料測定装置および測定試料同定方法
要約
(EN)
This sample measurement device (100) comprises: a measurement unit (10) that measures, in accordance with measurement conditions (30) including a plurality of parameters (31), a sample containing a plurality of components; and a data processing unit (20) that acquires measurement data. The data processing unit: acquires, on the basis of the measurement data (40), a distribution (43) of measurement quality indices (42) corresponding to the measurement conditions; and is configured so as to identify individual component peaks (41) in the measurement data on the basis of the distribution of the measurement quality indices and a parameter at the time of sample measurement.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de mesure d'échantillon (100) qui comprend : une unité de mesure (10) qui mesure, conformément à des conditions de mesure (30) comprenant une pluralité de paramètres (31), un échantillon contenant une pluralité de composants ; et une unité de traitement de données (20) qui acquiert des données de mesure. L'unité de traitement de données acquiert, sur la base des données de mesure (40), une distribution (43) d'indices de qualité de mesure (42) correspondant aux conditions de mesure ; et est conçue de façon à identifier des pics de composants individuels (41) dans les données de mesure sur la base de la distribution des indices de qualité de mesure et d'un paramètre au moment de la mesure de l'échantillon.
(JA)
この試料測定装置(100)は、複数のパラメータ(31)を含む測定条件(30)に従って複数の成分を含む試料の測定を行う測定部(10)と、測定データを取得するデータ処理部(20)と、を備え、データ処理部は、測定データ(40)に基づいて、測定条件に応じた測定品質指標(42)の分布(43)を取得し、測定品質指標の分布と、試料を測定する際のパラメータとに基づいて、測定データにおける各々の成分のピーク(41)を同定するように構成されている。
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