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1. WO2020194734 - 共振ずり測定装置

公開番号 WO/2020/194734
公開日 01.10.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/013845
国際出願日 28.03.2019
IPC
G01N 11/00 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
11材料の流動性,例.粘度,塑性,の調査;流動性の測定による材料分析
出願人
  • 国立大学法人東北大学 TOHOKU UNIVERSITY [JP]/[JP]
発明者
  • 栗原 和枝 KURIHARA Kazue
  • 水上 雅史 MIZUKAMI Masashi
  • 粕谷 素洋 KASUYA Motohiro
代理人
  • 棚井 澄雄 TANAI Sumio
  • 飯田 雅人 IIDA Masato
  • 及川 周 OIKAWA Shu
優先権情報
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) RESONANCE SHEAR MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE CISAILLEMENT PAR RÉSONANCE
(JA) 共振ずり測定装置
要約
(EN)
This resonance shear measurement device (1) comprises: an upper unit (10) having a piezoelectric element (15), an upper disk substrate (16), and a spring (17); and a lower unit (11) having a lower disk substrate (14), wherein a sample insertion part (21) is formed between the lower surface of the upper disk substrate (16) and the upper surface of the lower disk substrate (14), the piezoelectric element (15) and the upper disk substrate (16) are vibratably connected to a fixed apparatus (30) via the spring (17), a strain gauge (19) is attached to the spring (17), and by applying an AC voltage to the piezoelectric element (15) while changing a frequency thereof, a response voltage at a time of resonance from the strain gauge (19) according to the vibration of the upper unit (10) is measured.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de mesure de cisaillement par résonance (1) comprenant : une unité supérieure (10) comportant un élément piézoélectrique (15), un substrat de disque supérieur (16) et un ressort (17); et une unité inférieure (11) comportant un substrat de disque inférieur (14), une partie d'insertion d'échantillon (21) étant formée entre la surface inférieure du substrat de disque supérieur (16) et la surface supérieure du substrat de disque inférieur (14), l'élément piézoélectrique (15) et le substrat de disque supérieur (16) étant reliés par vibration à un appareil fixe (30) par l'intermédiaire du ressort (17), une jauge de contrainte (19) est fixée au ressort (17), et en appliquant une tension alternative à l'élément piézoélectrique (15) tout en changeant sa fréquence, une tension de réponse à un temps de résonance de la jauge de contrainte (19) en fonction de la vibration de l'unité supérieure (10) est mesurée.
(JA)
この発明の共振ずり測定装置(1)は、圧電素子(15)、上部ディスク基板(16)及びバネ(17)を有する上部ユニット(10)と、下部ディスク基板(14)を有する下部ユニット(11)と、を備え、上部ディスク基板(16)の下面と下部ディスク基板(14)の上面との間が試料挿入部(21)を形成し、圧電素子(15)及び上部ディスク基板(16)は、バネ(17)を介して固定機材(30)に振動可能に接続され、ひずみゲージ(19)がバネ(17)に貼着され、圧電素子(15)に周波数を変化させながら交流電圧を印加することにより、上部ユニット(10)の振動に伴うひずみゲージ(19)からの共振時の応答電圧を測定する。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報