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1. WO2020184361 - 検出値補正システム、係数算出方法、及び検出値補正方法

公開番号 WO/2020/184361
公開日 17.09.2020
国際出願番号 PCT/JP2020/009342
国際出願日 05.03.2020
IPC
G01R 35/00 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
35このサブクラスの他のグループに包含される装置の試験または較正
G01N 27/72 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
72磁気変量の調査によるもの
G01R 33/02 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
33磁気的変量を測定する計器または装置
02磁界または磁束の方向または大きさの測定
G01N 23/04 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02放射線の材料透過によるもの
04さらに材料の画像を形成するもの
CPC
G01N 23/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
02by transmitting the radiation through the material
04and forming images of the material
G01N 27/72
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27Investigating or analysing materials by the use of electric, electro-chemical, or magnetic means
72by investigating magnetic variables
G01R 33/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
G01R 35/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
35Testing or calibrating of apparatus covered by the preceding groups
出願人
  • 日本電産リード株式会社 NIDEC-READ CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 楠田 達文 KUSUDA Tatsufumi
代理人
  • 柳野 隆生 YANAGINO Takao
  • 柳野 嘉秀 YANAGINO Yoshihide
  • 森岡 則夫 MORIOKA Norio
  • 関口 久由 SEKIGUCHI Hisayoshi
  • 大西 裕人 OHNISHI Hiroto
優先権情報
2019-04578013.03.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) DETECTION VALUE CORRECTION SYSTEM, COEFFICIENT CALCULATING METHOD, AND DETECTION VALUE CORRECTION METHOD
(FR) SYSTÈME DE CORRECTION DE VALEUR DE DÉTECTION, PROCÉDÉ DE CALCUL DE COEFFICIENT ET PROCÉDÉ DE CORRECTION DE VALEUR DE DÉTECTION
(JA) 検出値補正システム、係数算出方法、及び検出値補正方法
要約
(EN)
Provided is a detection value correction system for correcting detection values of a plurality of sensors M1 to M10 arranged in a row for detecting physical quantities. The detection value correction system comprises a correction processing section 52 for correcting a detection value Bn of a sensor of interest Mn, of which the detection value is to be corrected, on the basis of detection values Bn−1 and Bn+1 of at least sensors M(n−1) and M(n+1) adjacent to the sensor of interest Mn among the sensors M1 to M10.
(FR)
L'invention concerne un système de correction de valeur de détection servant à corriger des valeurs de détection d'une pluralité de capteurs M1 à M10 agencés en une rangée pour détecter des quantités physiques. Le système de correction de valeur de détection comprend une section de traitement de correction (52) pour corriger une valeur de détection Bn d'un capteur d'intérêt Mn, dont la valeur de détection doit être corrigée, sur la base de valeurs de détection Bn-1 et Bn+1 des capteurs, au moins, M(n-1) et M(n +1) adjacents au capteur d'intérêt Mn parmi les Capteurs M1 à M10.
(JA)
検出値補正システムは、一列に配置された、物理量を検出する複数のセンサM1~M10の検出値を補正する検出値補正システムであって、センサM1~M10のうち、補正対象となるセンサである注目センサMnの検出値Bを、少なくとも注目センサMnと隣接するセンサM(n-1),M(n+1)の検出値Bn-1,Bn+1に基づいて補正する補正処理部52を備える。
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