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1. WO2020184129 - 解析装置、解析方法、及び解析プログラム

公開番号 WO/2020/184129
公開日 17.09.2020
国際出願番号 PCT/JP2020/006719
国際出願日 20.02.2020
IPC
G05B 19/418 2006.01
G物理学
05制御;調整
B制御系または調整系一般;このような系の機能要素;このような系または要素の監視または試験装置
19プログラム制御系
02電気式
418総合的工場管理,すなわち,複数の機械の集中管理,例.直接または分散数値制御(DNC),フレキシブルマニュファクチャリングシステム(FMS),インテグレーテッドマニュファクチャリングシステム(IMS),コンピュータインテグレーテッドマニュファクチャリング(CIM)
G06F 8/74 2018.01
G物理学
06計算;計数
F電気的デジタルデータ処理
8ソフトウェアエンジニアリングのための装置
70ソフトウェアの保守または管理
74リバースエンジニアリング;ソースコードから設計情報を抽出するもの
CPC
G05B 19/418
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
19Programme-control systems
02electric
418Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS], computer integrated manufacturing [CIM]
G06F 8/74
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
8Arrangements for software engineering
70Software maintenance or management
74Reverse engineering; Extracting design information from source code
出願人
  • オムロン株式会社 OMRON CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 太田 雄也 OTA, Yuya
  • 服部 玲子 HATTORI, Reiko
  • 鶴田 浩輔 TSURUTA, Kosuke
  • 仲島 晶 NAKAJIMA, Akira
  • 川ノ上 真輔 KAWANOUE, Shinsuke
代理人
  • 立花 顕治 TACHIBANA, Kenji
  • 山下 未知子 YAMASHITA, Michiko
  • 桝田 剛 MASUDA, Tsuyoshi
優先権情報
2019-04574413.03.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) ANALYSIS DEVICE, ANALYSIS METHOD, AND ANALYSIS PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE, PROCÉDÉ D'ANALYSE ET PROGRAMME D'ANALYSE
(JA) 解析装置、解析方法、及び解析プログラム
要約
(EN)
An analysis device according to one aspect of the present invention supplies a definition for a dependency relation between an input parameter and an output parameter of a standard function, which cannot be derived in a dependency analysis of a control program, said definition being supplied by use of function structure information which is external information. In other words, an analysis device according to this configuration identifies a dependency relation between an input parameter and an output parameter of the standard function on the basis of function structure information that defines a dependency relation between the input parameter and the output parameter of the standard function. Therefore, the dependency relation between the input and the output of a standard function becomes clear, so the dependency relations between a plurality of device variables that mediate the standard function can be identified.
(FR)
L'invention concerne, selon un aspect, un dispositif d'analyse fournissant une définition pour une relation de dépendance entre un paramètre d'entrée et un paramètre de sortie d'une fonction standard, qui ne peut pas être dérivée dans une analyse de dépendance d'un programme de commande, ladite définition étant fournie par l'utilisation d'informations de structure de fonction qui sont des informations externes. En d'autres termes, un dispositif d'analyse selon cette configuration identifie une relation de dépendance entre un paramètre d'entrée et un paramètre de sortie de la fonction standard sur la base d'informations de structure de fonction qui définissent une relation de dépendance entre le paramètre d'entrée et le paramètre de sortie de la fonction standard. Par conséquent, la relation de dépendance entre l'entrée et la sortie d'une fonction standard devient claire, ainsi les relations de dépendance entre une pluralité de variables de dispositif qui assurent la médiation de la fonction standard peuvent être identifiées.
(JA)
本発明の一側面に係る解析装置は、制御プログラムの依存性解析では導出不能な標準関数の入力パラメータ及び出力パラメータの間の依存関係の定義を関数構造情報という外部情報により与える。すなわち、当該構成に係る解析装置は、標準関数における入力パラメータ及び出力パラメータの間の依存関係を定義する関数構造情報に基づいて、標準関数における入力パラメータ及び出力パラメータの間の依存関係を特定する。これにより、標準関数の入出力間の依存関係が明らかになるため、標準関数を介在する複数のデバイス変数間の依存関係を特定することができる。
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