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1. WO2020170494 - X線位相イメージング装置およびX線位相イメージング方法

公開番号 WO/2020/170494
公開日 27.08.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/039788
国際出願日 09.10.2019
IPC
G01N 23/041 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02放射線の材料透過によるもの
04さらに材料の画像を形成するもの
041位相コントラストイメージング,例.格子干渉計を用いるもの
A61B 6/00 2006.01
A生活必需品
61医学または獣医学;衛生学
B診断;手術;個人識別
6放射線診断用機器,例.放射線治療と結合している装置
A61B 6/06 2006.01
A生活必需品
61医学または獣医学;衛生学
B診断;手術;個人識別
6放射線診断用機器,例.放射線治療と結合している装置
06隔板
G01T 7/00 2006.01
G物理学
01測定;試験
T原子核放射線またはX線の測定
7放射線測定装置の細部
CPC
A61B 6/00
AHUMAN NECESSITIES
61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
6Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
A61B 6/06
AHUMAN NECESSITIES
61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
6Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
06Diaphragms
G01N 23/041
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
02by transmitting the radiation through the material
04and forming images of the material
041Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
G01T 7/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
7Details of radiation-measuring instruments
出願人
  • 株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 土岐 貴弘 DOKI, Takahiro
  • 木村 健士 KIMURA, Kenji
  • 和田 幸久 WADA, Yukihisa
  • 徳田 敏 TOKUDA, Satoshi
代理人
  • 宮園 博一 MIYAZONO, Hirokazu
優先権情報
2019-02924921.02.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) X-RAY PHASE IMAGING DEVICE AND X-RAY PHASE IMAGING METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'IMAGERIE PAR RAYON X
(JA) X線位相イメージング装置およびX線位相イメージング方法
要約
(EN)
This X-ray phase imaging device (100) comprises an X-ray detector (2) for detecting emitted X-rays and a plurality of diffraction gratings (3) that each include a grating area (36) where a grating is formed on part of a substrate (34). At least one of the plurality of diffraction gratings (3) has a grating area (36) that includes a first part (37) where the thickness of the substrate (34) is larger and a second part (38) where the thickness of the substrate (34) is smaller than at the first part (37).
(FR)
Ce dispositif d'imagerie de phase à rayon X (100) comprend un détecteur de rayon X (2) pour détecter des rayons X émis, et une pluralité de réseaux de diffraction (3) qui comprennent chacun une zone de réseau (36) où un réseau est formé sur une partie d'un substrat (34). Au moins l'une de la pluralité de réseaux de diffraction (3) présente une zone de réseau (36) qui comprend une première partie (37) où l'épaisseur du substrat (34) est plus grande et une seconde partie (38) où l'épaisseur du substrat (34) est plus petite que celle de la première partie (37).
(JA)
このX線位相イメージング装置(100)は、照射されたX線を検出するX線検出器(2)と、基板(34)の一部に格子が形成された格子領域(36)を含む複数の回折格子(3)とを備え、複数の回折格子(3)のうち少なくとも1つは、格子領域(36)内において、基板(34)の厚みが大きい第1部分(37)と第1部分(37)よりも基板(34)の厚みが小さい第2部分(38)とを含む。
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