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1. WO2020166609 - 光学的測距装置

公開番号 WO/2020/166609
公開日 20.08.2020
国際出願番号 PCT/JP2020/005342
国際出願日 12.02.2020
IPC
G01S 7/487 2006.01
G物理学
01測定;試験
S無線による方位測定;無線による航行;電波の使用による距離または速度の決定;電波の反射または再輻射を用いる位置測定または存在探知;その他の波を用いる類似の装置
7グループG01S13/00,G01S15/00,G01S17/00による方式の細部
48グループG01S17/00による方式のもの
483パルス方式の細部
486受信機
487所望のエコー信号の抽出
G01J 1/42 2006.01
G物理学
01測定;試験
J赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1測光,例.写真の露出計
42電気的な放射線検出器によるもの
G01S 17/10 2020.01
G物理学
01測定;試験
S無線による方位測定;無線による航行;電波の使用による距離または速度の決定;電波の反射または再輻射を用いる位置測定または存在探知;その他の波を用いる類似の装置
17電波以外の電磁波の反射または再放射を使用する方式,例.ライダー方式
02電波以外の電磁波の反射を使用する方式
06対象物の位置データを決定する方式
08距離のみを測定するためのもの
10断続パルス変調波を送信するもの
H01L 31/10 2006.01
H電気
01基本的電気素子
L半導体装置,他に属さない電気的固体装置
31赤外線,可視光,短波長の電磁波,または粒子線輻射に感応する半導体装置で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御かのどちらかに特に適用されるもの;それらの装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置;それらの細部
08輻射線が装置内を流れる電流を制御するもの,例.光―抵抗器(フォト―レジスター)
10少なくとも1つの電位障壁または表面障壁に特徴のあるもの,例.フォトトランジスタ
H01L 31/107 2006.01
H電気
01基本的電気素子
L半導体装置,他に属さない電気的固体装置
31赤外線,可視光,短波長の電磁波,または粒子線輻射に感応する半導体装置で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御かのどちらかに特に適用されるもの;それらの装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置;それらの細部
08輻射線が装置内を流れる電流を制御するもの,例.光―抵抗器(フォト―レジスター)
10少なくとも1つの電位障壁または表面障壁に特徴のあるもの,例.フォトトランジスタ
101赤外線,可視光線または紫外線の放射に感応する装置
102唯一の電位障壁または表面障壁に特徴のあるもの
107電位障壁がアバランシェモードで作用するもの,例.アバランシェフォトダイオード
CPC
G01C 3/06
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
3Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
02Details
06Use of electric means to obtain final indication
G01J 1/42
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
1Photometry, e.g. photographic exposure meter
42using electric radiation detectors
G01S 17/10
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
17Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
06Systems determining position data of a target
08for measuring distance only
10using transmission of interrupted, pulse-modulated waves
G01S 7/487
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
7Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
48of systems according to group G01S17/00
483Details of pulse systems
486Receivers
487Extracting wanted echo signals ; , e.g. pulse detection
H01L 31/10
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
31Semiconductor devices sensitive to infra-red radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
08in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
10characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. phototransistors
H01L 31/107
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
31Semiconductor devices sensitive to infra-red radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
08in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
10characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. phototransistors
101Devices sensitive to infra-red, visible or ultra-violet radiation
102characterised by only one potential barrier or surface barrier
107the potential barrier working in avalanche mode, e.g. avalanche photodiode
出願人
  • 株式会社デンソー DENSO CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 木村 禎祐 KIMURA, Teiyu
  • 尾崎 憲幸 OZAKI, Noriyuki
  • 秦 武廣 HATA, Takehiro
  • 曽我 峰樹 SOGA, Mineki
  • 松原 弘幸 MATSUBARA, Hiroyuki
  • 高井 勇 TAKAI, Isamu
代理人
  • 東田 潔 TOHDA, Kiyoshi
優先権情報
2019-02531215.02.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) OPTICAL RANGING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TÉLÉMÉTRIE OPTIQUE
(JA) 光学的測距装置
要約
(EN)
An optical ranging device (100) comprises: a laser diode (10) for repeatedly projecting pulsed output light toward a subject being measured; a photosensitive element (18) including a photon counting photosensitive element for receiving light and outputting the light as a received light signal; a ranging unit (16) including a signal discrimination means and a propagation estimation means, the signal discrimination means discriminating a signal component that exceeds a threshold value out of the received light signal as a reflective signal resulting from reflection of the output light on the subject being measured, the propagation estimation means estimating a round-trip propagation time for the output light to and from the subject being measured on the basis of the reflective signal; and a threshold value setting unit (32) for setting, as the threshold value, a demarcation level corresponding to an reference level actually determined from the received light signal when the signal discrimination means discriminates the reflective signal, on the basis of a relationship between a reference level determined from the mean of a probability distribution of noise included in the received light signal and a demarcation level in which the cumulative probability in the probability distribution is a predetermined value.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de télémétrie optique (100) comprenant : une diode laser (10) permettant de projeter de manière répétée une lumière de sortie pulsée vers un sujet mesuré ; un élément photosensible (18) comprenant un élément photosensible de comptage de photons permettant de recevoir de la lumière et d'émettre la lumière en tant que signal de lumière reçu ; une unité de télémétrie (16) comprenant un moyen de discrimination de signal et un moyen d'estimation de propagation, le moyen de discrimination de signal distinguant une composante de signal qui dépasse une valeur de seuil dans le signal de lumière reçu en tant que signal de réflexion résultant de la réflexion de la lumière de sortie sur le sujet mesuré, le moyen d'estimation de propagation estimant un temps de propagation aller-retour de la lumière de sortie en direction et en provenance du sujet mesuré en fonction du signal réfléchissant ; et une unité de réglage de valeur de seuil (32) permettant de régler, en tant que valeur de seuil, un niveau de démarcation correspondant à un niveau de référence réellement déterminé à partir du signal de lumière reçu lorsque le moyen de discrimination de signal discrimine le signal de réflexion, en fonction d'une relation entre un niveau de référence déterminé à partir de la moyenne d'une distribution de probabilité de bruit inclus dans le signal lumineux reçu et un niveau de démarcation dans lequel la probabilité cumulative dans la distribution de probabilité constitue une valeur prédéterminée.
(JA)
パルス状の出力光を測定対象物へ向けて繰り返し投光するレーザダイオード(10)と、光を受光して受光信号として出力するフォトンカウント型受光素子を含む受光素子(18)と、受光信号において閾値を超える信号成分を測定対象物における出力光の反射による反射信号として弁別する信号弁別手段と、反射信号に基づいて測定対象物までの出力光の往復伝搬時間を推定する伝搬推定手段とを含む測距部(16)と、受光信号に含まれるノイズの確率分布の平均値から求められる基準レベルと確率分布における累積確率が所定値となる境界レベルとの関係に基づいて、信号弁別手段において反射信号を弁別する際に受光信号から実際に求めた基準レベルに対応する境界レベルを閾値として設定する閾値設定部(32)と、を備える光学的測距装置(100)とする。
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