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1. WO2020166300 - 計測ガイド装置、及び、それに用いるシミュレーション演算装置

公開番号 WO/2020/166300
公開日 20.08.2020
国際出願番号 PCT/JP2020/002319
国際出願日 23.01.2020
IPC
G01N 23/202 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
201小角散乱の測定,例.小角X線散乱[2018.01]
202中性子線を用いるもの
CPC
G01N 23/202
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
201by measuring small-angle scattering
202using neutrons
出願人
  • 株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 金澤 拓也 KANAZAWA Takuya
  • 淺原 彰規 ASAHARA Akinori
代理人
  • 青稜特許業務法人 SEIRYO I.P.C.
優先権情報
2019-02337013.02.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) MEASUREMENT GUIDE DEVICE, AND SIMULATION COMPUTATION DEVICE USED IN SAME
(FR) DISPOSITIF DE GUIDAGE DE MESURE ET DISPOSITIF DE CALCUL DE SIMULATION UTILISÉ DANS CELUI-CI
(JA) 計測ガイド装置、及び、それに用いるシミュレーション演算装置
要約
(EN)
The purpose of the present invention is to provide a measurement guide device with which it is possible to easily select a subsequent subject to be measured on the basis of a result of measurement that has already been obtained, and a simulation computation device used in the measurement guide device. In order to achieve the purpose described above, the present invention provides a measurement guide device that proposes a subsequent measurement point on the basis of an obtained measurement result, wherein the measurement guide device has: a database that saves a virtual measurement signal and a measurement sequence that are obtained in a simulation; a similarity search unit that extracts, from the database, a virtual measurement signal group that is similar to the measurement results obtained by a measurement device, and a measurement sequence group therefor; and a subsequent point proposal unit that selects one or more measurement sequences from the measurement sequence group obtained by the similarity search unit and establishes a subsequent measurement point.
(FR)
L'objet de la présente invention est de fournir un dispositif de guidage de mesure avec lequel il est possible de sélectionner facilement un sujet suivant à mesurer sur la base d'un résultat de mesure qui a déjà été obtenu et un dispositif de calcul de simulation utilisé dans le dispositif de guidage de mesure. Pour atteindre l'objet décrit ci-dessus, la présente invention concerne un dispositif de guidage de mesure qui propose un point de mesure suivant sur la base d'un résultat de mesure obtenu, le dispositif de guidage de mesure comprenant : une base de données qui sauvegarde un signal de mesure virtuelle et une séquence de mesure qui sont obtenus dans une simulation ; une unité de recherche de similarité qui extrait, à partir de la base de données, un groupe de signaux de mesure virtuelle qui est similaire aux résultats de mesure obtenus par un dispositif de mesure et un groupe de séquences de mesure associé ; et une unité de proposition de point suivant qui sélectionne une ou plusieurs séquences de mesure à partir du groupe de séquences de mesure obtenu par l'unité de recherche de similarité et établit un point de mesure suivant.
(JA)
本発明の目的は、既に得られた計測の結果に基づいて次の計測の対象を容易に選定することが可能な計測ガイド装置、及び、それに用いるシミュレーション演算装置を提供することである。 上記目的を達成するために、得られた計測結果を基に次の測定点を提案する計測ガイド装置であって、シミュレーションで得られた仮想計測信号および計測手順を保存するデータベースと、計測装置で得られた計測結果に類似する仮想計測信号群およびその計測手順群をデータベースから抽出する類似検索部と、類似検索部で得られた計測手順群から1つ以上の計測手順を選んで次の測定点を決める次点提案部を有する。
他の公開
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