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1. WO2020158192 - 光学測定方法および光学測定装置

公開番号 WO/2020/158192
公開日 06.08.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/047981
国際出願日 09.12.2019
IPC
G01N 21/64 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
62調査される材料が励起され,それにより光を発しまたは入射光の波長に変化を生ずるシステム
63光学的励起
64蛍光;燐光
G01N 35/02 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
35グループG01N1/00~G01N33/00のいずれか1つに分類される方法または材料に限定されない自動分析;そのための材料の取扱い
021以上の処理位置または分析位置へコンベア系によって移動させられる多数の試料容器を用いるもの
G01N 35/04 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
35グループG01N1/00~G01N33/00のいずれか1つに分類される方法または材料に限定されない自動分析;そのための材料の取扱い
021以上の処理位置または分析位置へコンベア系によって移動させられる多数の試料容器を用いるもの
04コンベア系の細部
CPC
G01N 21/64
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
G01N 35/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
02using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
G01N 35/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
02using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
04Details of the conveyor system
出願人
  • コニカミノルタ株式会社 KONICA MINOLTA, INC. [JP]/[JP]
発明者
  • 岡田 純 OKADA, Jun
  • 彼谷 高敏 KAYA, Takatoshi
  • 永江 剛典 NAGAE, Kosuke
代理人
  • 特許業務法人鷲田国際特許事務所 WASHIDA & ASSOCIATES
優先権情報
2019-01619631.01.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) OPTICAL MEASUREMENT METHOD AND OPTICAL MEASUREMENT DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE OPTIQUE ET DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE
(JA) 光学測定方法および光学測定装置
要約
(EN)
This invention provides an optical measurement method that makes it possible to measure a blank value and signal value using a single optical measurement device while using a turntable. This optical measurement method uses a turntable capable of turning in a first turning direction and a second turning direction that is the reverse direction from the first turning direction. The optical measurement method comprises a step for obtaining a blank value by using an optical measurement device to measure light from an inspection chip, a step for producing a signal from the inspection chip for which the blank value was measured, and a step for obtaining a signal value by using the optical measurement device to measure light from the inspection chip producing the signal. The step for producing the signal is carried out after the inspection chip for which the blank value was measured is moved in the first turning direction. The step for obtaining the signal value is carried out using the optical measurement device after the inspection chip that has been made to produce the signal is moved in the second turning direction.
(FR)
La présente invention concerne un procédé de mesure optique qui permet de mesurer une valeur à blanc et une valeur de signal à l'aide d'un seul dispositif de mesure optique tout en utilisant un plateau tournant. Ce procédé de mesure optique utilise un plateau tournant pouvant tourner dans une première direction de rotation et dans une seconde direction de rotation qui est la direction inverse de la première direction de rotation. Le procédé de mesure optique comprend une étape consistant à obtenir une valeur à blanc à l'aide d'un dispositif de mesure optique pour mesurer la lumière provenant d'une puce à inspecter, une étape consistant à produire un signal à partir de la puce à inspecter pour laquelle la valeur à blanc a été mesurée, et une étape consistant à obtenir une valeur de signal à l'aide du dispositif de mesure optique pour mesurer la lumière provenant de la puce à inspecter produisant le signal. L'étape consistant à produire le signal est effectuée après déplacement de la puce à inspecter, pour laquelle la valeur à blanc a été mesurée, dans la première direction de rotation. L'étape consistant à obtenir la valeur de signal est effectuée à l'aide du dispositif de mesure optique après déplacement de la puce à inspecter, qui a été amenée à produire le signal, dans la seconde direction de rotation.
(JA)
本発明は、回転テーブルを用いながらも、1つの光学測定機器を用いてブランク値およびシグナル値を測定することができる光学測定方法を提供することに関する。光学測定方法は、第1回転方向、および第1回転方向の逆方向である第2回転方向に回転可能な回転テーブル用いる。光学測定方法は、検査チップからの光を光学測定機器を用いて測定してブランク値を得る工程と、前記ブランク値を測定した検査チップからシグナルを発生させる工程と、前記シグナルが発生している前記検査チップからの光を前記光学測定機器を用いて測定してシグナル値を得る工程と、を有する。前記シグナルを発生させる工程は、前記ブランク値を測定した前記検査チップを前記第1回転方向に移動させた後に行われる。前記シグナル値を得る工程は、前記シグナルを発生させた前記検査チップを前記第2回転方向に移動させた後に前記光学測定機器を用いて行われる。
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