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1. WO2020157921 - 検査用ソケット

公開番号 WO/2020/157921
公開日 06.08.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/003405
国際出願日 31.01.2019
IPC
G01R 1/04 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02一般的な構造の細部
04ハウジング;支持部材,端子装置
G01R 31/26 2014.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
26個々の半導体装置の試験
G01R 31/28 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
H01L 23/32 2006.01
H電気
01基本的電気素子
L半導体装置,他に属さない電気的固体装置
23半導体または他の固体装置の細部
32動作中の完全装置を支持する支持体,すなわち分離できる定着物
CPC
G01R 1/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
G01R 31/26
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
26Testing of individual semiconductor devices
G01R 31/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
H01L 23/32
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
23Details of semiconductor or other solid state devices
32Holders for supporting the complete device in operation, i.e. detachable fixtures
出願人
  • 山一電機株式会社 YAMAICHI ELECTRONICS CO., LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 宮明 潤一 MIYAAKI, Junichi
代理人
  • 藤田 考晴 FUJITA, Takaharu
優先権情報
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SOCKET FOR INSPECTION
(FR) SUPPORT POUR INSPECTION
(JA) 検査用ソケット
要約
(EN)
An IC socket (2) comprises a first contact terminal (15a) for touching a gull-wing lead terminal (1b) of an IC device (1), a second contact terminal for touching a J lead terminal, a cam part (3d) and sliding part (15c5) for causing the first contact terminal (15a) to touch the gull-wing lead terminal (1b), and a latch (6) for causing the second contact terminal to touch the J lead terminal. After the touching operation by the latch (6), an asynchronous operation is carried out in which the touching operation by the cam part (3d) and sliding part (15c5) is carried out.
(FR)
Un support de circuit intégré (2) comprend une première borne de contact (15a) pour toucher une borne de fil d'aile en M (1b) d'un dispositif à circuit intégré (1), une seconde borne de contact pour toucher une borne de fil en J, une partie de came (3d) et une partie coulissante (15c5) pour amener la première borne de contact (15a) à toucher la borne de fil d'aile en M (1b), et un verrou (6) pour amener la seconde borne de contact à toucher la borne de fil en J. Après l'opération de toucher par le verrou (6), une opération asynchrone est effectuée au cours de laquelle l'opération de toucher par la partie de came (3d) et la partie coulissante (15c5) est réalisée.
(JA)
ICソケット(2)は、ICデバイス(1)のガルウィング型リード端子(1b)に接触する第1コンタクト端子(15a)と、J型リード端子に接触する第2コンタクト端子と、ガルウィング型リード端子(1b)に第1コンタクト端子(15a)を接触させるカム部(3d)及び摺動部(15c5)と、J型リード端子に第2コンタクト端子を接触させるラッチ(6)と、を備えている。ラッチ(6)による接触動作の後にカム部(3d)及び摺動部(15c5)による接触動作が行われる非同期動作を行う。
他の公開
JP2020569282
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