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1. WO2020130150 - 接着層評価システム及び接着層評価方法

公開番号 WO/2020/130150
公開日 25.06.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/050211
国際出願日 20.12.2019
IPC
G01N 19/04 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
19機械的方法による材料の調査
04材料間,例.シールテープ,被覆材,の粘着力の測定
G01N 29/11 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
29超音波,音波または亜音波の使用による材料の調査または分析;超音波または音波を物体内に伝播させることによる物体内部の可視化
04固体の分析
11音波の減衰の測定によるもの
G01N 29/46 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
29超音波,音波または亜音波の使用による材料の調査または分析;超音波または音波を物体内に伝播させることによる物体内部の可視化
44検知された応答信号の処理
46スペクトル分析,例.フーリェ分析
G01N 29/48 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
29超音波,音波または亜音波の使用による材料の調査または分析;超音波または音波を物体内に伝播させることによる物体内部の可視化
44検知された応答信号の処理
48振幅比較によるもの
出願人
  • 三菱重工業株式会社 MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD. [JP]/[JP]
  • 国立大学法人京都大学 KYOTO UNIVERSITY [JP]/[JP]
  • 学校法人立命館 THE RITSUMEIKAN TRUST [JP]/[JP]
発明者
  • ▲高▼木 清嘉 TAKAGI, Kiyoka
  • 加茂 宗太 KAMO, Sota
  • 松田 直樹 MATSUDA, Naoki
  • 森 直樹 MORI, Naoki
代理人
  • 特許業務法人酒井国際特許事務所 SAKAI INTERNATIONAL PATENT OFFICE
優先権情報
2018-24005821.12.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) ADHESIVE LAYER EVALUATION SYSTEM AND ADHESIVE LAYER EVALUATION METHOD
(FR) SYSTÈME D'ÉVALUATION DE COUCHE ADHÉSIVE ET PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE COUCHE ADHÉSIVE
(JA) 接着層評価システム及び接着層評価方法
要約
(EN)
This adhesive layer evaluation system 10 is provided with an ultrasonic irradiation device 11, an ultrasonic detection device 12, a sample placement section 14, an ultrasonic reflector 15, and a control device 30 for controlling each of the aforementioned components. The control device 30 comprises: an ultrasonic irradiation control unit 34 that causes the ultrasonic irradiation device 11 to emit ultrasonic waves; an ultrasonic detection control unit 35 that causes the ultrasonic detection device 12 to detect a twice-transmitted wave, said twice-transmitted wave being an ultrasonic wave that, after passing once through a sample 1 comprising an adhesive layer 1A and placed on the sample placement section 14, was reflected by the ultrasonic reflector 15 and passed once again through the sample 1; and a detected wave evaluation unit 36 that compares an actual measured value of the twice-transmitted wave and a theoretical value for the twice-transmitted wave calculated on the basis of a theoretical model relating to the sample 1 and evaluates whether the adhesive layer 1A has weak adhesion.
(FR)
L'invention concerne un système d'évaluation de couche adhésive 10 qui est pourvu d'un dispositif d'irradiation ultrasonore 11, d'un dispositif de détection ultrasonore 12, d'une section de placement d'échantillon 14, d'un réflecteur ultrasonore 15, et d'un dispositif de commande 30 pour commander chacun des composants susmentionnés. Le dispositif de commande 30 comprend : une unité de commande d'irradiation ultrasonore 34 qui amène le dispositif d'irradiation ultrasonore 11 à émettre des ondes ultrasonores ; une unité de commande de détection ultrasonore 35 qui amène le dispositif de détection ultrasonore 12 à détecter une onde transmise deux fois, ladite onde transmise deux fois étant une onde ultrasonore qui, après passage à travers un échantillon 1 comprenant une couche adhésive 1A et placée sur la section de placement d'échantillon 14, a été réfléchie par le réflecteur ultrasonore 15 et a traversé à nouveau l'échantillon 1 ; et une unité d'évaluation d'onde détectée 36 qui compare une valeur mesurée réelle de l'onde transmise deux fois et une valeur théorique pour l'onde transmise deux fois calculée sur la base d'un modèle théorique relatif à l'échantillon 1 et évalue si la couche adhésive 1A présente une adhérence faible.
(JA)
接着層評価システム10は、超音波照射装置11と、超音波検出装置12と、試料設置部14と、超音波反射体15と、各部を制御する制御装置30と、を備える。制御装置30は、超音波照射装置11に超音波を照射させる超音波照射制御部34と、超音波検出装置12に、試料設置部14に設置された接着層1Aを有する試料1を1回透過して、超音波反射体15によって反射され、試料1をさらに1回透過した超音波である2回透過波を検出させる超音波検出制御部35と、2回透過波の実測値と試料1に関する理論モデルに基づいて算出される2回透過波の理論値とを比較して、接着層1Aが弱接着を有するか否かを評価する検出波評価部36と、を有する。
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