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1. WO2020129850 - リニアスケールの検出値の補正方法

公開番号 WO/2020/129850
公開日 25.06.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/048984
国際出願日 13.12.2019
IPC
G01D 18/00 2006.01
G物理学
01測定;試験
D特に特定の変量に適用されない測定;単一のほかのサブクラスに包含されない2つ以上の変量を測定する装置;料金計量装置;特に特定の変量に適用されない伝達または変換装置;他に分類されない測定または試験
18グループG01D1/00からG01D15/00に分類された装置の試験または較正
G01B 11/00 2006.01
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
G01D 5/26 2006.01
G物理学
01測定;試験
D特に特定の変量に適用されない測定;単一のほかのサブクラスに包含されない2つ以上の変量を測定する装置;料金計量装置;特に特定の変量に適用されない伝達または変換装置;他に分類されない測定または試験
5感知要素の出力を伝達するための機械的手段;感知素子の型式や特性が変換手段を束縛しない場合に,感知要素の出力を別の変量に変換する手段;特に特定の変量に適用されない変換器
26光学的手段を使用するもの,すなわち赤外線,可視光線または紫外線を用いるもの
CPC
G01B 11/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
G01D 18/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
18Testing or calibrating of apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
G01D 5/26
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
5Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
26characterised by optical transfer means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
出願人
  • オムロン株式会社 OMRON CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 海老沢 啓太 EBISAWA, Keita
  • 林 信吾 HAYASHI, Shingo
代理人
  • 特許業務法人秀和特許事務所 IP FIRM SHUWA
優先権情報
2018-24035821.12.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) METHOD FOR CORRECTING VALUES DETECTED BY LINEAR SCALES
(FR) PROCÉDÉ DE CORRECTION DE VALEURS DÉTECTÉES PAR DES ÉCHELLES LINÉAIRES
(JA) リニアスケールの検出値の補正方法
要約
(EN)
Provided is a method for more accurately correcting the coordinates of the position of a point on an image capturing target, identified by values detected by linear scales. The visual field is moved to a measurement point defined with respect to a recess formed on a calibration plate, and an image is captured (step S13-1); edges are detected from an image of the periphery of the recess (step S13-2); the intersection of the edges is calculated (step S13-3); values of the intersection as actually measured by linear scales are saved (step S13-4); and the position coordinates of a point on an image capturing target as detected by the linear scales are corrected by using true values and differences.
(FR)
L'invention concerne un procédé permettant de corriger plus précisément les coordonnées de la position d'un point sur une cible de capture d'image, identifiée par des valeurs détectées par des échelles linéaires. Le champ visuel est déplacé vers un point de mesure défini par rapport à un évidement formé sur une plaque d'étalonnage, et une image est capturée (étape S13-1) ; des bords sont détectés à partir d'une image de la périphérie de l'évidement (étape S13-2) ; l'intersection des bords est calculée (étape S13-3) ; des valeurs de l'intersection telle que mesurée réellement par des échelles linéaires sont sauvegardées (étape S13-4) ; et les coordonnées de position d'un point sur une cible de capture d'image telle que détectée par les échelles linéaires sont corrigées à l'aide de valeurs réelles et de différences.
(JA)
リニアスケールの検出値によって特定される撮像対象上の点の位置座標をより正確に補正できる方法を提供する。キャリブレーションプレート上に形成された凹部に対して定義される計測ポイントに視野を移動させて撮像し(ステップS13‐1)、凹部の端縁の画像からエッジを検出し(ステップS13‐2)、そのエッジの交点を算出し(ステップS13‐3)、この交点のリニアスケールによる実測値を保存し(ステップS13‐4)、真値と差分を用いて、撮像対象上の点のリニアスケールによって検出される位置座標を補正する。
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