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1. WO2020121989 - 構造体、光学式計測装置、構造体の製造方法、および組成物

公開番号 WO/2020/121989
公開日 18.06.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/047993
国際出願日 09.12.2019
IPC
G01S 7/481 2006.01
G物理学
01測定;試験
S無線による方位測定;無線による航行;電波の使用による距離または速度の決定;電波の反射または再輻射を用いる位置測定または存在探知;その他の波を用いる類似の装置
7グループG01S13/00,G01S15/00,G01S17/00による方式の細部
48グループG01S17/00による方式のもの
481構造的特徴,例.光学素子の配列
CPC
G01S 7/481
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
7Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
48of systems according to group G01S17/00
481Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
出願人
  • 富士フイルム株式会社 FUJIFILM CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 齋江 俊之 SAIE Toshiyuki
  • 嶋田 和人 SHIMADA Kazuto
代理人
  • 特許業務法人特許事務所サイクス SIKs & Co.
優先権情報
2018-23486314.12.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) STRUCTURE, OPTICAL MEASUREMENT DEVICE, METHOD FOR PRODUCING STRUCTURE, AND COMPOSITION
(FR) STRUCTURE, DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE, PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE STRUCTURE ET COMPOSITION
(JA) 構造体、光学式計測装置、構造体の製造方法、および組成物
要約
(EN)
A structure comprising: a light-emitting unit which is formed on one surface of a base plate and emits measurement light; a first light receiving unit which is formed on the one surface and receives reflected light of the measurement light from a target object; a second light receiving unit which is situated on the one surface so as to be closer than the first light receiving unit is to the light-emitting unit and receives a portion of the measurement light as reference light; a light transmitting member which is disposed over the base plate so that the light-emitting unit, the first light receiving unit, and the second light receiving unit are therebetween and allows the measurement light to pass therethrough; and a light-blocking part for reducing noise light from the measurement light travelling through the base plate and the light transmitting member and arriving at the first light receiving unit. In addition, the present invention relates to an optical measurement device having the above structure, a method for producing the structure, and a composition used when producing the structure.
(FR)
La présente invention concerne une structure comprenant : une unité émettrice de lumière qui est formée sur une surface d'une plaque de base et qui émet une lumière de mesure; une première unité de réception de lumière qui est formée sur la surface et qui reçoit une lumière réfléchie de la lumière de mesure depuis un objet cible; une seconde unité de réception de lumière qui est située sur la surface de façon à être plus proche de l'unité d'émission de lumière que la première unité de réception de lumière et qui reçoit une partie de la lumière de mesure en tant que lumière de référence; un élément de transmission de lumière qui est disposé au-dessus de la plaque de base de telle sorte que l'unité d'émission de lumière, la première unité de réception de lumière et la seconde unité de réception de lumière sont entre celui-ci et qui permet à la lumière de mesure de passer à travers celui-ci; et une partie de blocage de lumière servant à réduire un bruit lumineux provenant de la lumière de mesure circulant à travers la plaque de base et l'élément de transmission de lumière et arrivant sur la première unité de réception de lumière. La présente invention concerne en outre un dispositif de mesure optique comprenant la structure ci-dessus, un procédé de production de la structure et une composition utilisée lors de la production de la structure.
(JA)
基板の一方の面に形成された、計測光を発する発光部と、上記一方の面に形成され、計測光の対象物からの反射光を受光する第1受光部と、上記一方の面で第1受光部よりも発光部に近い位置にあり、計測光の一部を参照光として受光する第2受光部と、基板に対し、発光部、第1受光部および第2受光部を挟むように配置された、計測光を透過させる透光部材と、基板と透光部材の間を伝搬して第1受光部に到達する計測光のノイズ光を低減する遮光部を有する、構造体。さらに、本発明は、上記構造体を有する光学式計測装置、上記構造体の製造方法、および、上記構造体の製造の際に使用される組成物に関する。
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