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1. WO2020121859 - 光検出装置

公開番号 WO/2020/121859
公開日 18.06.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/046909
国際出願日 29.11.2019
IPC
G01J 1/42 2006.01
G物理学
01測定;試験
J赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1測光,例.写真の露出計
42電気的な放射線検出器によるもの
G01J 1/44 2006.01
G物理学
01測定;試験
J赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1測光,例.写真の露出計
42電気的な放射線検出器によるもの
44電気回路
H01L 31/107 2006.01
H電気
01基本的電気素子
L半導体装置,他に属さない電気的固体装置
31赤外線,可視光,短波長の電磁波,または粒子線輻射に感応する半導体装置で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御かのどちらかに特に適用されるもの;それらの装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置;それらの細部
08輻射線が装置内を流れる電流を制御するもの,例.光―抵抗器(フォト―レジスター)
10少なくとも1つの電位障壁または表面障壁に特徴のあるもの,例.フォトトランジスタ
101赤外線,可視光線または紫外線の放射に感応する装置
102唯一の電位障壁または表面障壁に特徴のあるもの
107電位障壁がアバランシェモードで作用するもの,例.アバランシェフォトダイオード
出願人
  • 浜松ホトニクス株式会社 HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP]/[JP]
発明者
  • 園部 弘典 SONOBE Hironori
代理人
  • 長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki
  • 黒木 義樹 KUROKI Yoshiki
  • 柴山 健一 SHIBAYAMA Kenichi
優先権情報
2018-23289212.12.2018JP
2018-23289512.12.2018JP
2019-17594826.09.2019JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) LIGHT DETECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION OPTIQUE
(JA) 光検出装置
要約
(EN)
A light detection device 1 is equipped with a light detection unit 20. The light detection unit 20 includes an APD 11, a plurality of temperature compensation diodes 16a, 16b, 17a, 17b, and a terminal 22 that electrically connects the APD 11 and the plurality of temperature compensation diodes 16a, 16b, 17a, 17b in parallel. The plurality of temperature compensation diodes 16a, 16b, 17a, 17b perform temperature compensation for the gain of the APD 11. The light detection unit 20 further includes a light detection region 71, and temperature detection regions 72, 73. The APD 11 is provided to the light detection region 71. The temperature detection regions 72, 73 are positioned on the periphery of the light detection region 71. The plurality of temperature compensation diodes 16a, 16b, 17a, 17b are provided to the temperature detection regions 72, 73. The light detection region 71 is interposed between the temperature detection region 72 and the temperature detection region 73.
(FR)
Selon l'invention, un dispositif (1) de détection optique comporte une unité (20) de détection optique. L'unité (20) de détection optique possède: une photodiode à avalanche (PDA) (11); plusieurs diodes (16a, 16b, 17a, 17b) pour compensation de la chaleur; et des bornes (22) qui relient électriquement en parallèle la PDA (11) et les diodes (16a, 16b, 17a, 17b) pour compensation de la chaleur. Les diodes (16a, 16b, 17a, 17b) pour compensation de la chaleur effectuent une compensation de la chaleur du gain de la PDA (11). L'unité (20) de détection optique possède une région (71) de détection optique et des régions (72, 73) de détection de la température. La PDA (11) est située dans la région (71) de détection optique. Les régions (72, 73) de détection de la température sont situées sur la circonférence de la région (71) de détection optique. Les diodes (16a, 16b, 17a, 17b) pour compensation de la chaleur sont situées dans les régions (72, 73) de détection de la température. La région (71) de détection optique est située entre la région (72) de détection de la température et la région (73) de détection de la température.
(JA)
光検出装置1は、光検出部20を備える。光検出部20は、APD11と、複数の温度補償用ダイオード16a,16b,17a,17bと、APD11と複数の温度補償用ダイオード16a,16b,17a,17bとを電気的に並列に接続する端子22とを有する。複数の温度補償用ダイオード16a,16b,17a,17bは、APD11のゲインの温度補償を行う。光検出部20は、光検出領域71と、温度検出領域72,73とを有する。光検出領域71には、APD11が設けられる。温度検出領域72,73は、光検出領域71の周囲に位置する。温度検出領域72,73には、複数の温度補償用ダイオード16a,16b,17a,17bが設けられている。光検出領域71は、温度検出領域72と温度検出領域73とに挟まれている。
他の公開
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