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1. WO2020116279 - 構造物の点検支援装置及び方法

公開番号 WO/2020/116279
公開日 11.06.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/046364
国際出願日 27.11.2019
IPC
E04G 23/00 2006.01
E固定構造物
04建築物
G足場;型枠;せき板;建築用器具またはその他の建築用補助具,またはそれらの使用;現場における建築材料の取り扱い;現存する建築物の修復,解体またはその他の作業
23現存する建築物への作業手段
G01N 21/88 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
88きず,欠陥,または汚れの存在の調査
CPC
E04G 23/00
EFIXED CONSTRUCTIONS
04BUILDING
GSCAFFOLDING; FORMS; SHUTTERING; BUILDING IMPLEMENTS OR OTHER BUILDING AIDS, OR THEIR USE; HANDLING BUILDING MATERIALS ON THE SITE; REPAIRING, BREAKING-UP OR OTHER WORK ON EXISTING BUILDINGS
23Working measures on existing buildings,
G01N 21/88
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
出願人
  • 富士フイルム株式会社 FUJIFILM CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 松本 一磨 MATSUMOTO, Kazuma
代理人
  • 松浦 憲三 MATSUURA, Kenzo
優先権情報
2018-22826805.12.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) INSPECTION ASSISTANCE DEVICE AND METHOD FOR STRUCTURE
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'AIDE À L'INSPECTION POUR STRUCTURE
(JA) 構造物の点検支援装置及び方法
要約
(EN)
Provided are an inspection assistance device and method for a structure, the device and method enabling automatic detection of an event caused by damage and the damage causing the event and enabling reduction in burden of inspection of a structure. This device is provided with: an image acquisition unit which acquires an image captured of a structure to be inspected; a detector (52) which has undergone machine learning and which detects damage in a structure and an event induced by the damage by using the image acquired by the image acquisition unit as an input image (34); and an output unit (60) which outputs a detection result by the detector (52).
(FR)
La présente invention concerne un dispositif et un procédé d'aide à l'inspection pour une structure, le dispositif et le procédé permettant la détection automatique d'un événement provoqué par un dommage et du dommage provoquant l'événement et permettant la réduction de la charge d'inspection d'une structure. Ce dispositif comprend : une unité d'acquisition d'image qui acquiert une image capturée d'une structure devant être inspectée ; un détecteur (52) qui a subi un apprentissage machine et qui détecte un dommage dans une structure et un événement induit par le dommage en utilisant l'image acquise par l'unité d'acquisition d'image comme une image d'entrée (34) ; et une unité de sortie (60) qui délivre un résultat de détection par le détecteur (52).
(JA)
損傷が原因で起こる事象とその事象の原因となる損傷を自動で検出し、構造物の点検の負担を低減することができる構造物の点検支援装置及び方法を提供する。点検対象の構造物を撮影した画像を取得する画像取得部と、機械学習済みの検出器(52)であって、画像取得部が取得した画像を入力画像(34)とし、構造物の損傷及び損傷が原因で起こる事象を検出する検出器(52)と、検出器(52)による検出結果を出力する出力部(60)と、を備える。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報