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1. WO2020116236 - 検査装置、検査方法、及び検査装置用プログラム

公開番号 WO/2020/116236
公開日 11.06.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/046137
国際出願日 26.11.2019
IPC
G01R 19/00 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
19電流または電圧を測定し,またはそれの存在または符号を指示するための装置
G01R 31/50 2020.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
50短絡,導通,漏電または誤配線のための電気機器,導電線,ケーブルまたは構成要素の試験
G01R 31/28 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
G01R 31/319 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
317デジタル回路の試験
3181機能試験
319テスターハードウエア,すなわち,出力処理回路
CPC
G01R 19/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
19Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
G01R 31/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
G01R 31/319
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
G01R 31/50
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
出願人
  • 日本電産リード株式会社 NIDEC-READ CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 栗原 靖人 KURIHARA Yasuhito
代理人
  • 柳野 隆生 YANAGINO Takao
  • 柳野 嘉秀 YANAGINO Yoshihide
  • 森岡 則夫 MORIOKA Norio
  • 関口 久由 SEKIGUCHI Hisayoshi
  • 大西 裕人 OHNISHI Hiroto
優先権情報
2018-22874906.12.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND INSPECTION DEVICE PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION, PROCÉDÉ D'INSPECTION ET PROGRAMME DE DISPOSITIF D'INSPECTION
(JA) 検査装置、検査方法、及び検査装置用プログラム
要約
(EN)
Provided is an inspection method for inspecting a portion A to be inspected in which a plurality of current paths A1, A2 having diode characteristics are connected in parallel. The inspection method comprises a measuring process step in which, while allowing a current with a preset first current value Ia to flow between the ends of the portion A to be inspected, a voltage across the ends is measured as a first voltage value Va, wherein the first current value Ia is smaller than or equal to a current value at which the voltage across the ends of the portion A to be inspected, when normal, substantially becomes an on-voltage Von.
(FR)
L'invention concerne un procédé d'inspection permettant d'inspecter une partie A à inspecter dans laquelle une pluralité de trajets de courant (A1, A2) présentant des caractéristiques de diode sont connectés en parallèle. Le procédé d'inspection comprend une étape de traitement de mesure dans laquelle, tout en permettant à un courant présentant une première valeur de courant prédéfinie Ia de circuler entre les extrémités de la partie A à inspecter, une tension aux bornes est mesurée en tant que première valeur de tension Va, la première valeur de courant Ia étant inférieure ou égale à une valeur de courant à laquelle la tension aux bornes de la partie A à inspecter, lorsqu'elle est normale, devient sensiblement une tension de mise en marche.
(JA)
ダイオード特性を有する複数の電流経路A1,A2が並列接続された検査対象部Aの検査を行う検査方法であって、予め設定された第一電流値Iaの電流を前記両端間に流しつつ、前記両端間の電圧を第一電圧値Vaとして測定する測定処理工程を含み、第一電流値Iaは、正常な検査対象部Aの両端間の電圧が実質的にオン電圧Vonになる電流値以下である。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報