処理中

しばらくお待ちください...

設定

設定

出願の表示

1. WO2020111076 - プローブユニット

公開番号 WO/2020/111076
公開日 04.06.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/046235
国際出願日 26.11.2019
IPC
G01R 1/067 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02一般的な構造の細部
06測定用導線;測定用探針
067測定用探針
G01R 1/073 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02一般的な構造の細部
06測定用導線;測定用探針
067測定用探針
073複合探針
G01R 31/26 2020.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
26個々の半導体装置の試験
H01R 33/76 2006.01
H電気
01基本的電気素子
R導電接続;互いに絶縁された多数の電気接続要素の構造的な集合体;嵌合装置;集電装置
33装置を保持する役目と,その装置と構造的に組合わされている相手方部品を通じて電気的接続をする役目を果たしている,ホルダ部分を持つ,特にその装置を支持するために適合した嵌合装置,例.ランプ・ホルダ;その個々の部品
744個以上の極をもつ装置
76ソケット,クリップまたは同様な接触子をもち,この接触子が相手方部品上の並行配置のピン,刃または同様な接触子との軸方向の摺動係合に適合するホルダ,例.電子管ソケット
CPC
G01R 1/067
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
G01R 1/073
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
G01R 31/26
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
26Testing of individual semiconductor devices
H01R 33/76
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
33Coupling devices specially adapted for supporting apparatus and having one part acting as a holder providing support and electrical connection via a counterpart which is structurally associated with the apparatus, e.g. lamp holders; Separate parts thereof
74Devices having four or more poles ; , e.g. holders for compact fluorescent lamps
76Holders with sockets, clips, or analogous contacts adapted for axially-sliding engagement with parallely-arranged pins, blades, or analogous contacts on counterpart, e.g. electronic tube socket
出願人
  • 日本発條株式会社 NHK SPRING CO., LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 井沼 毅 INUMA, Tsuyoshi
  • 相馬 一也 SOMA, Kazuya
代理人
  • 特許業務法人酒井国際特許事務所 SAKAI INTERNATIONAL PATENT OFFICE
優先権情報
2018-22143027.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) PROBE UNIT
(FR) UNITÉ DE SONDE
(JA) プローブユニット
要約
(EN)
This probe unit comprises: a plurality of first contact probes each in contact with a target electrode for contact; a second contact probe connected to ground; signal pipes provided around the first contact probes; a ground member forming an air layer between same and the signal pipes; a probe holder having plate-shaped first and second members that hold an end of each of the first and second contact probes, the signal pipes, and the ground member; a first wiring section arranged on at least a surface of the first member and electrically connected to the second contact probe; a second wiring section provided on at least a surface of the second member and electrically connected to the second contact probe; a first conductive means that electrically connects the front and rear surfaces of the first wiring section; and a second conductive means that electrically connects the front and rear surfaces of the second wiring section.
(FR)
Cette unité de sonde comprend : une pluralité de premières sondes de contact, chacune reliée à une électrode cible pour assurer le contact ; une seconde sonde de contact connectée à la terre ; des conduites de signal disposées autour des premières sondes de contact ; un élément de mise à la terre formant une couche d'air entre celui-ci et les conduites de signal ; un support de sonde doté de premier et second éléments en forme de plaque qui maintiennent une extrémité de chacune des première et seconde sondes de contact, les conduites de signal et l'élément de sol ; une première section de câblage disposée sur au moins une surface du premier élément et connectée électriquement à la seconde sonde de contact ; une seconde section de câblage disposée sur au moins une surface du second élément et connectée électriquement à la seconde sonde de contact ; un premier moyen conducteur qui connecte électriquement les surfaces avant et arrière de la première section de câblage ; et un second moyen conducteur qui connecte électriquement les surfaces avant et arrière de la seconde section de câblage.
(JA)
本発明にかかるプローブユニットは、接触対象の電極とそれぞれ接触する複数の第1のコンタクトプローブと、グランドに接続する第2コンタクトプローブと、第1のコンタクトプローブの周囲に設けられる信号用パイプと、信号用パイプとの間に空気層を形成するグランド部材と、第1および第2のコンタクトプローブ、信号用パイプならびにグランド部材の各一端部を保持する板状の第1および第2部材とを有するプローブホルダと、少なくとも第1部材の表面に設けられ、第2のコンタクトプローブと電気的に接続する第1配線部と、少なくとも第2部材の表面に設けられ、第2のコンタクトプローブと電気的に接続する第2配線部と、第1配線部の表面と裏面とを電気的に接続する第1導電手段と、第2配線部の表面と裏面とを電気的に接続する第2導電手段とを備える。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報