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1. WO2020110712 - 検査システム、検査方法およびプログラム

公開番号 WO/2020/110712
公開日 04.06.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/044393
国際出願日 12.11.2019
IPC
G02B 7/28 2006.01
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
7光学要素用のマウント,調節手段,または光密結合
28焦点調節信号の自動発生用のシステム
G01N 21/88 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
88きず,欠陥,または汚れの存在の調査
G02B 7/36 2006.01
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
7光学要素用のマウント,調節手段,または光密結合
28焦点調節信号の自動発生用のシステム
36像鮮鋭度技術を使用するもの
G03B 13/36 2006.01
G物理学
03写真;映画;光波以外の波を使用する類似技術;電子写真;ホログラフイ
B写真を撮影するためのまたは写真を投影もしくは直視するための装置または配置;光波以外の波を用いる類似技術を用いる装置または配置;そのための付属品
13フアインダ;カメラ用の焦点調節補助部材;カメラ用の焦点調節のための手段;カメラ用の自動焦点調節システム
32焦点調節のための手段
34動力による焦点調節
36自動焦点調節システム
CPC
G01N 21/88
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
G02B 7/28
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
7Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
28Systems for automatic generation of focusing signals
G02B 7/36
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
7Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
28Systems for automatic generation of focusing signals
36using image sharpness techniques ; , e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
G03B 13/36
GPHYSICS
03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
13Viewfinders; Focusing aids for cameras; Means for focusing for cameras; Autofocus systems for cameras
32Means for focusing
34Power focusing
36Autofocus systems
出願人
  • オムロン株式会社 OMRON CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 今西 信隆 IMANISHI, Nobutaka
  • 加藤 豊 KATO, Yutaka
代理人
  • 特許業務法人深見特許事務所 FUKAMI PATENT OFFICE, P.C.
優先権情報
2018-22107127.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM
(FR) SYSTÈME DE CONTRÔLE, PROCÉDÉ DE CONTRÔLE, ET PROGRAMME
(JA) 検査システム、検査方法およびプログラム
要約
(EN)
This inspection system is provided with an autofocus processing unit, an inspection unit for inspecting an object on the basis of an inspection image generated when a focal position is adjusted to a focusing position, and a setting unit for setting autofocus processing condition data in accordance with at least one of the variety of the object and the portion thereof to be inspected. The autofocus processing unit executes autofocus processing in accordance with the condition data. The focal position can thereby be easily adjusted in accordance with the variety of the object and the portion thereof to be inspected, and a focused image of the object can be obtained.
(FR)
Ce système de contrôle est pourvu d'une unité de traitement de mise au point automatique, d'une unité de contrôle pour contrôler un objet sur la base d'une image de contrôle générée lorsqu'une position focale est réglée à une position de mise au point, et une unité de réglage pour régler des données d'état de traitement de mise au point automatique conformément à au moins l'un de la diversité de l'objet et de la partie de correspondante à contrôler. L'unité de traitement de mise au point automatique effectue un traitement de mise au point automatique conformément aux données d'état. La position focale peut ainsi être facilement ajustée en fonction de la diversité de l'objet et de la partie correspondante à contrôler, et une image focalisée de l'objet peut être obtenue.
(JA)
検査システムは、オートフォーカス処理部と、焦点位置が合焦位置に調節されたときに生成された検査画像に基づいて対象物を検査する検査部と、対象物の品種および検査対象箇所の少なくとも一方に応じて、オートフォーカス処理の条件データを設定する設定部とを備える。オートフォーカス処理部は、条件データに従ってオートフォーカス処理を実行する。これにより、対象物の品種および検査対象箇所に応じて焦点位置を容易に調節することができ、かつ、対象物に合焦した画像を得ることができる。
他の公開
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