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1. WO2020110268 - 試料測定装置、プログラムおよび測定パラメータ設定支援装置

公開番号 WO/2020/110268
公開日 04.06.2020
国際出願番号 PCT/JP2018/044061
国際出願日 29.11.2018
IPC
G01N 30/86 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
30吸着,吸収もしくは類似現象,またはイオン交換,例.クロマトグラフィ,を用いる成分分離による材料の調査または分析
02カラムクロマトグラフィ
86信号解析
G01N 30/02 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
30吸着,吸収もしくは類似現象,またはイオン交換,例.クロマトグラフィ,を用いる成分分離による材料の調査または分析
02カラムクロマトグラフィ
G01N 30/52 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
30吸着,吸収もしくは類似現象,またはイオン交換,例.クロマトグラフィ,を用いる成分分離による材料の調査または分析
02カラムクロマトグラフィ
50収着剤または固定相液体の調節
52物理的パラメータ
CPC
G01N 30/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
30Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography
02Column chromatography
G01N 30/52
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
30Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography
02Column chromatography
50Conditioning of the sorbent material or stationary liquid
52Physical parameters
G01N 30/86
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
30Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography
02Column chromatography
86Signal analysis
出願人
  • 株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 野田 陽 NODA, Akira
代理人
  • 宮園 博一 MIYAZONO, Hirokazu
優先権情報
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SAMPLE MEASURING APPARATUS, PROGRAM AND MEASUREMENT PARAMETER SETTING ASSISTANCE DEVICE
(FR) APPAREIL DE MESURE D'ÉCHANTILLON, PROGRAMME ET DISPOSITIF D'ASSISTANCE DE RÉGLAGE DE PARAMÈTRE DE MESURE
(JA) 試料測定装置、プログラムおよび測定パラメータ設定支援装置
要約
(EN)
This sample measuring apparatus comprises a measuring unit (1) for measuring a sample, and a control unit (2) for analysing the measurement results from the measuring unit. The control unit (2) is configured: to estimate and obtain, by using a model formula and on the basis of measurement results according to a plurality of measurement conditions having mutually different measurement parameter conditions, measurement results according to other measurement conditions; and to estimate a distribution of measurement quality indexes with respect to measurement parameters, on the basis of the estimated measurement results.
(FR)
L'invention concerne un appareil de mesure d'échantillon comprenant une unité de mesure (1) permettant de mesurer un échantillon, et une unité de commande (2) permettant d'analyser les résultats de mesure de l'unité de mesure. L'unité de commande (2) est conçue : pour estimer et obtenir, au moyen d'une formule de modèle et en fonction de résultats de mesure conformément à une pluralité de conditions de mesure présentant des conditions de paramètre de mesure différentes, des résultats de mesure en fonction d'autres conditions de mesure ; et pour estimer une distribution d'indices de qualité de mesure par rapport à des paramètres de mesure, en fonction des résultats de mesure estimés.
(JA)
この試料測定装置は、試料の測定を行う測定部(1)と、測定部による測定結果を分析する制御部(2)と、を備える。制御部(2)は、測定パラメータの条件が互いに異なる複数の測定条件による測定結果に基づいてモデル式を用いて他の測定条件における測定結果を推定して取得するとともに、推定した測定結果に基づいて測定パラメータに対する測定品質指標の分布を推定するように構成されている。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報