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1. WO2020105727 - 単結晶X線構造解析装置用試料ホルダユニット

公開番号 WO/2020/105727
公開日 28.05.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/045701
国際出願日 21.11.2019
IPC
G01N 23/20025 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
20008分析機器の構造の細部,例.X線源,検出器または光学系に特徴のあるもの;付属品;試料調製
20025そのための試料ホルダまたは試料支持部材
G01N 23/205 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
205回折カメラを用いるもの
G01N 23/207 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
207回折法,例.プローブを中心として1以上の移動可能な検出器を円周上に配置するもの
G01N 1/28 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
1サンプリング;調査用標本の調製
28調査用標本の調製
CPC
G01N 1/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
28Preparing specimens for investigation ; including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
G01N 23/20025
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
20025Sample holders or supports therefor
G01N 23/205
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
205using diffraction cameras
G01N 23/207
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
出願人
  • 株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 佐藤 孝 SATO Takashi
代理人
  • 福地 武雄 FUKUCHI Takeo
優先権情報
2018-21978122.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SAMPLE HOLDER UNIT FOR SINGLE-CRYSTAL X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS DEVICES
(FR) UNITÉ PORTE-ÉCHANTILLON POUR DISPOSITIFS D'ANALYSE STRUCTURELLE AUX RAYONS X SUR MONOCRISTAL
(JA) 単結晶X線構造解析装置用試料ホルダユニット
要約
(EN)
Provided is a sample holder unit that can quickly and easily occlude a sample into a crystal sponge and can quickly and accurately perform single-crystal X-ray structural analysis. The sample holder is provided with: a base part mounted to a goniometer of a single-crystal X-ray structural analysis device; a holding part that is formed in the base part and that holds a porous complex crystal capable of occluding a sample in a plurality of micropores formed inside; and a sample introduction structure that is formed in the base part and that introduces a sample to be occluded in the porous complex crystal. An applicator 300 is provided with: an opening part 302 and a storage space for storing the sample holder; a sealing part 304 provided to a surface of contact with the sample holder stored in the storage space; and slipout prevention parts 305 that engage with the sample holder stored in the storage space and that prevent slipout of the sample holder from the opening part 302.
(FR)
L'invention concerne une unité porte-échantillon qui peut occlure rapidement et facilement un échantillon dans une éponge cristalline et peut effectuer rapidement et avec précision une analyse structurelle aux rayons X sur monocristal. Le porte-échantillon est pourvu : d'une partie de base montée sur un goniomètre d'un dispositif d'analyse structurelle aux rayons X sur monocristal ; d'une partie de support qui est formée dans la partie de base et qui supporte un cristal complexe poreux capable d'occlure un échantillon dans une pluralité de micropores formés à l'intérieur de celui-ci ; et d'une structure d'introduction d'échantillon qui est formée dans la partie de base et qui introduit un échantillon à occlure dans le cristal complexe poreux. Un applicateur 300 est pourvu : d'une partie d'ouverture 302 et d'un espace de stockage pour stocker le porte-échantillon ; d'une partie d'étanchéité 304 disposée sur une surface de contact avec le porte-échantillon stocké dans l'espace de stockage ; et des parties de prévention de glissement 305 qui viennent en prise avec le porte-échantillon stocké dans l'espace de stockage et qui empêchent le glissement du porte-échantillon par la partie d'ouverture 302.
(JA)
結晶スポンジへの試料の吸蔵を迅速かつ容易に行うことができ、単結晶X線構造解析を迅速に、かつ正確に行える試料ホルダユニットを提供する。試料ホルダは、単結晶X線構造解析装置のゴニオメータに取り付けられる基台部と、基台部に形成され、内部に形成された複数の微細孔に試料を吸蔵可能な細孔性錯体結晶を保持する保持部と、基台部に形成され、細孔性錯体結晶に吸蔵させるための試料を導入する試料導入構造を備え、アプリケータ300は、試料ホルダを収納する収納空間および開口部302と、収納空間に収納された試料ホルダとの接触面に設けられたシール部304と、収納空間に収納された試料ホルダに係合して、開口部302からの試料ホルダの抜け出しを阻止する抜け止め部305と、を備える。
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