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1. WO2020105726 - 単結晶X線構造解析装置用試料ホルダ、試料ホルダユニットおよび吸蔵方法

公開番号 WO/2020/105726
公開日 28.05.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/045700
国際出願日 21.11.2019
IPC
G01N 23/20025 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
20008分析機器の構造の細部,例.X線源,検出器または光学系に特徴のあるもの;付属品;試料調製
20025そのための試料ホルダまたは試料支持部材
G01N 23/205 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
205回折カメラを用いるもの
G01N 23/207 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
207回折法,例.プローブを中心として1以上の移動可能な検出器を円周上に配置するもの
G01N 1/28 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
1サンプリング;調査用標本の調製
28調査用標本の調製
CPC
G01N 1/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
28Preparing specimens for investigation ; including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
G01N 23/20025
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
20025Sample holders or supports therefor
G01N 23/205
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
205using diffraction cameras
G01N 23/207
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
出願人
  • 株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 佐藤 孝 SATO Takashi
代理人
  • 福地 武雄 FUKUCHI Takeo
優先権情報
2018-21978022.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SINGLE-CRYSTAL X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS DEVICE SAMPLE HOLDER, SAMPLE HOLDER UNIT, AND OCCLUSION METHOD
(FR) PORTE-ÉCHANTILLON D'UN DISPOSITIF D'ANALYSE STRUCTURELLE AUX RAYONS X SUR MONOCRISTAL, UNITÉ PORTE-ÉCHANTILLON ET PROCÉDÉ D'OCCLUSION
(JA) 単結晶X線構造解析装置用試料ホルダ、試料ホルダユニットおよび吸蔵方法
要約
(EN)
Provided are: a sample holder, a sample holder unit, and an occlusion method that enable quick and accurate single-crystal X-ray structural analysis by quickly and easily occluding a sample into a crystal sponge. This sample holder for use in a single-crystal X-ray structural analysis device, is provided with: a base part mounted to a goniometer of the single-crystal X-ray structural analysis device; a sample holding part that is formed in the base part and that holds a porous complex crystal capable of occluding a sample in a plurality of micropores formed inside; and a sample introduction structure that is formed in the base part and that introduces the sample to be occluded in the porous complex crystal.
(FR)
L'invention concerne : un porte-échantillon, une unité porte-échantillon, et un procédé d'occlusion qui permettent une analyse structurelle aux rayons X sur monocristal rapide et précise par l'occlusion rapide et facile d'un échantillon dans une éponge cristalline. Ce porte-échantillon destiné à être utilisé dans un dispositif d'analyse structurelle aux rayons X sur monocristal comprend : une partie de base montée sur un goniomètre du dispositif d'analyse structurelle aux rayons X sur monocristal ; une partie porte-échantillon qui est formée dans la partie de base et qui supporte un cristal complexe poreux capable d'occlure un échantillon dans une pluralité de micropores formés à l'intérieur de celui-ci ; et une structure d'introduction d'échantillon qui est formée dans la partie de base et qui introduit l'échantillon à occlure dans le cristal complexe poreux.
(JA)
結晶スポンジへの試料の吸蔵を迅速かつ容易に行うことで、単結晶X線構造解析を迅速、かつ正確に行うことができる試料ホルダ、試料ホルダユニットおよび吸蔵方法を提供する。単結晶X線構造解析装置において使用する試料ホルダであって、前記単結晶X線構造解析装置のゴニオメータに取り付けられる基台部と、前記基台部に形成され、内部に形成された複数の微細孔に前記試料を吸蔵可能な細孔性錯体結晶を保持する試料保持部と、前記基台部に形成され、前記細孔性錯体結晶に吸蔵させるための前記試料を導入する試料導入構造と、を備える。
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