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1. WO2020105725 - 単結晶X線構造解析用試料の吸蔵装置と吸蔵方法

公開番号 WO/2020/105725
公開日 28.05.2020
国際出願番号 PCT/JP2019/045699
国際出願日 21.11.2019
IPC
G01N 23/20025 2018.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20材料による放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の散乱の利用によるもの,例.非結晶構造の調査のためのもの;材料による放射線の反射の利用によるもの
20008分析機器の構造の細部,例.X線源,検出器または光学系に特徴のあるもの;付属品;試料調製
20025そのための試料ホルダまたは試料支持部材
G01N 1/28 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
1サンプリング;調査用標本の調製
28調査用標本の調製
CPC
G01N 1/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
28Preparing specimens for investigation ; including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
G01N 23/20025
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
20025Sample holders or supports therefor
出願人
  • 株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 佐藤 孝 SATO Takashi
代理人
  • 福地 武雄 FUKUCHI Takeo
優先権情報
2018-21981123.11.2018JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SINGLE-CRYSTAL X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS SAMPLE OCCLUSION DEVICE AND OCCLUSION METHOD
(FR) DISPOSITIF D'OCCLUSION ET PROCÉDÉ D'OCCLUSION D'ÉCHANTILLON D'ANALYSE STRUCTURALE À RAYONS X MONOCRISTALLINE
(JA) 単結晶X線構造解析用試料の吸蔵装置と吸蔵方法
要約
(EN)
The present invention makes it possible to supply, with certainty, a porous complex crystal occluding a sample to a single-crystal X-ray structural analysis device. This occlusion device for occluding a sample is provided with: a supply part that supplies the sample to a porous complex crystal held by a sample holder 310; a temperature adjustment unit that controls the temperature of the porous complex crystal; a drive unit that drives the supply part; and a control unit that controls the supply part, the temperature adjustment unit, and the drive unit. The sample holder 310 is set to the occlusion device in a state of being mounted to an applicator 311. The supply part supplies the sample to the porous complex crystal held by the sample holder 310 in the inside of the applicator 311. The temperature adjustment unit controls the temperature of the porous complex crystal held by the sample holder 310 in the inside of the applicator 311 where the sample is supplied.
(FR)
La présente invention permet de fournir, avec certitude, un cristal complexe poreux occluant un échantillon à un dispositif d'analyse structurale à rayons X monocristallin. Ledit dispositif d'occlusion permettant d'occlure un échantillon comprend : une partie alimentation qui fournit l'échantillon à un cristal complexe poreux maintenu par un porte-échantillon (310) ; une unité de réglage de température qui commande la température du cristal complexe poreux ; une unité d'entraînement qui entraîne la partie alimentation ; et une unité de commande qui commande la partie alimentation, l'unité de réglage de température et l'unité d'entraînement. Le porte-échantillon (310) est fixé au dispositif d'occlusion dans un état monté sur un applicateur (311). La partie alimentation fournit l'échantillon au cristal complexe poreux maintenu par le porte-échantillon (310) à l'intérieur de l'applicateur (311). L'unité de réglage de température commande la température du cristal complexe poreux maintenu par le porte-échantillon (310) dans l'intérieur de l'applicateur (311) où l'échantillon est fourni.
(JA)
試料を吸蔵した細孔性錯体結晶を、単結晶X線構造解析装置に確実に供給することができるようにする。試料を吸蔵させる吸蔵装置であって、前記試料を試料ホルダ310に保持された細孔性錯体結晶に供給する供給部と、前記細孔性錯体結晶の温度を制御する温度調整部と、前記供給部を駆動する駆動部と、前記供給部と前記温度調整部と前記駆動部とを制御する制御部と、を備える。前記試料ホルダ310はアプリケータ311に装着された状態で前記吸蔵装置にセットされ、前記供給部は、前記アプリケータ311の内部で前記試料ホルダ310に保持された前記細孔性錯体結晶に前記試料を供給し、前記温度調整部は、前記試料が供給された前記アプリケータ311の内部で前記試料ホルダ310に保持された前記細孔性錯体結晶の温度を制御する。
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